Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2016188572) ÉQUIPEMENT DE TEST AUTOMATISÉ POUR SIGNAUX COMBINÉS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   
N° de publication : WO/2016/188572 N° de la demande internationale : PCT/EP2015/061764
Date de publication : 01.12.2016 Date de dépôt international : 27.05.2015
CIB :
G01R 31/319 (2006.01) ,G01R 31/3167 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28
Essai de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317
Essai de circuits numériques
3181
Essais fonctionnels
319
Matériel d'essai, c.à d. circuits de traitement de signaux de sortie
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28
Essai de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
3167
Essai de circuits analogiques et numériques combinés
Déposants :
HANTSCH, Andreas [DE/DE]; DE (US)
RIVOIR, Jochen [DE/DE]; DE (US)
ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho Nerima-ku Tokyo, 179-0071, JP (AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IR, IS, IT, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SY, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW)
Inventeurs :
HANTSCH, Andreas; DE
RIVOIR, Jochen; DE
Mandataire :
BURGER, Markus; DE
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) AUTOMATED TEST EQUIPMENT FOR COMBINED SIGNALS
(FR) ÉQUIPEMENT DE TEST AUTOMATISÉ POUR SIGNAUX COMBINÉS
Abrégé :
(EN) An automated test equipment for testing devices under test is provided, wherein the automated test equipment is configured to combine different output signals from multiple pins of a single device under test or from pins of a plurality of devices under test to obtain a combined signal; and to extract individual signals or properties of the individual signals from the combined signal.
(FR) L'invention concerne un équipement de test automatisé pour tester des dispositifs sous test, l'équipement de test automatisé étant configuré pour combiner différents signaux de sortie à partir de multiples broches d'un seul dispositif sous test ou à partir de broches d'une pluralité de dispositifs sous test pour obtenir un signal combiné ; et pour extraire des signaux individuels ou des propriétés des signaux individuels à partir du signal combiné.
 front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)