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1. (WO2016187752) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE MESURE D'ATTITUDE D'ANTENNE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2016/187752 N° de la demande internationale : PCT/CN2015/079596
Date de publication : 01.12.2016 Date de dépôt international : 22.05.2015
CIB :
H01Q 1/12 (2006.01) ,G01C 1/00 (2006.01)
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
Q
ANTENNES
1
Détails de dispositifs associés aux antennes
12
Supports; Moyens de montage
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
C
MESURE DES DISTANCES, DES NIVEAUX OU DES RELÈVEMENTS; GÉODÉSIE; NAVIGATION; INSTRUMENTS GYROSCOPIQUES; PHOTOGRAMMÉTRIE OU VIDÉOGRAMMÉTRIE
1
Mesure des angles
Déposants :
华为技术有限公司 HUAWEI TECHNOLOGIES CO., LTD. [CN/CN]; 中国广东省深圳市 龙岗区坂田华为总部办公楼 Huawei Administration Building Bantian, Longgang District Shenzhen, Guangdong 518129, CN
Inventeurs :
李明凡 LI, Mingfan; CN
李颖哲 LI, Yingzhe; CN
耿卫东 GENG, Weidong; CN
Mandataire :
北京中博世达专利商标代理有限公司 BEIJING ZBSD PATENT&TRADEMARK AGENT LTD.; 中国北京市 海淀区交大东路31号11号楼8层 8F, Building 11 No. 31 Jiaoda East Road, Haidian District Beijing 100044, CN
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) METHOD AND DEVICE FOR MEASURING ANTENNA ATTITUDE
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE MESURE D'ATTITUDE D'ANTENNE
(ZH) 一种测量天线姿态的方法和装置
Abrégé :
(EN) An embodiment of the present invention relates to a technical field of antenna attitude measurement, and discloses a method and device for measuring an antenna attitude, so as to address the complex antenna manufacturing process in prior art due to the need to add a measurement device to each antenna during the antenna manufacturing process. The method provided in the embodiment of the present invention comprises: acquiring I images captured correspondingly from I viewpoints by an electronic device, wherein each image comprises a sub image of an antenna to be measured, I ≥ 2, and I is an integer; acquiring a two-dimensional coordinate of each point of a to-be-measured set in each of the I images with respect to an electronic device coordinate system, wherein the to-be-measured set is a set formed by at least two points in the sub image of the antenna to be measured; acquiring a three-dimensional coordinate of said point with respect to an antenna coordinate system; and determining attitude information of the antenna to be measured according to the two-dimensional coordinates of the points with respect to the electronic device coordinate system and the three-dimensional coordinates of the points with respect to the antenna coordinate system.
(FR) Un mode de réalisation de la présente invention se rapporte à un domaine technique de mesure d'attitude d'antenne, et concerne un procédé et un dispositif de mesure d'attitude d'antenne, permettant d'aborder le processus de fabrication d'antenne complexe de l'état de la technique par rapport à la nécessité d'ajouter un dispositif de mesure à chaque antenne pendant le processus de fabrication d'antenne. Le procédé selon le mode de réalisation de la présente invention consiste à : acquérir I images capturées à partir de I points de visualisation correspondants par un dispositif électronique, chaque image comprenant une sous-image d'une antenne à mesurer, I ≥ 2, et I étant un nombre entier; acquérir des coordonnées bidimensionnelles de chaque point d'un ensemble à mesurer dans chacune des I images par rapport à un système de coordonnées de dispositif électronique, l'ensemble à mesurer étant formé d'au moins deux points de la sous-image de l'antenne à mesurer; acquérir des coordonnées tridimensionnelles dudit point par rapport à un système de coordonnées d'antenne; et déterminer des informations d'attitude de l'antenne à mesurer conformément aux coordonnées bidimensionnelles des points par rapport au système de coordonnées de dispositif électronique et aux coordonnées tridimensionnelles des points par rapport au système de coordonnées d'antenne.
(ZH) 本发明实施例公开了一种测量天线姿态的方法和装置,涉及天线姿态测量技术领域,用以解决现有技术中,因需要在生产天线的过程中为每根天线加装测量设备,从而导致的生产天线的过程较复杂的问题。本发明实施例提供的方法包括:获取电子设备从I个视点对应采集的I个图像;其中,每个图像包含待测量天线子图像,I≥2,I为整数;获取该I个图像中的每个图像的待测量集合中的各点在电子设备坐标系下的二维坐标;其中,待测量集合为待测量天线子图像的至少两个点构成的集合;获取该各点在天线坐标系下的三维坐标;根据该各点在电子设备坐标系下的二维坐标与该各点在天线坐标系下的三维坐标,确定待测量天线的姿态信息。
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Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)