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1. (WO2016153193) PRISE D'ESSAI DE MODULE DE LENTILLE DE CAMÉRA
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2016/153193 N° de la demande internationale : PCT/KR2016/002305
Date de publication : 29.09.2016 Date de dépôt international : 08.03.2016
CIB :
G03B 43/00 (2006.01) ,G01M 11/02 (2006.01) ,G01B 11/26 (2006.01)
G PHYSIQUE
03
PHOTOGRAPHIE; CINÉMATOGRAPHIE; TECHNIQUES ANALOGUES UTILISANT D'AUTRES ONDES QUE DES ONDES OPTIQUES; ÉLECTROGRAPHIE; HOLOGRAPHIE
B
APPAREILS OU DISPOSITIONS POUR PRENDRE DES PHOTOGRAPHIES, POUR LES PROJETER OU LES VISIONNER; APPAREILS OU DISPOSITIONS UTILISANT DES TECHNIQUES ANALOGUES UTILISANT D'AUTRES ONDES QUE DES ONDES OPTIQUES; LEURS ACCESSOIRES
43
Vérification du fonctionnement correct d'appareils photographiques ou de leurs pièces
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
M
ESSAI D'ÉQUILIBRAGE STATIQUE OU DYNAMIQUE DES MACHINES, DES STRUCTURES OU DES OUVRAGES; ESSAI DES STRUCTURES, DES OUVRAGES OU DES APPAREILS, NON PRÉVU AILLEURS
11
Essai des appareils d'optique; Essai des structures ou ouvrages par des méthodes optiques, non prévu ailleurs
02
Essai des propriétés optiques
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
26
pour mesurer des angles ou des cônes; pour vérifier l'alignement des axes
Déposants :
주식회사 아이에스시 ISC CO.,LTD [KR/KR]; 경기도 성남시 중원구 갈마치로215, 금강펜테리움 IT타워 6층(상대원동) (Sangdaewon-dong)Geumgang Penterium IT Tower 6th, Galmachi-ro 215, Jungwon-gu, Seongnam-si Gyeonggi-do 13217, KR
Inventeurs :
정영배 CHUNG, Young Bae; KR
Mandataire :
오종환 OH, Jong Hwan; KR
Données relatives à la priorité :
10-2015-003863420.03.2015KR
Titre (EN) CAMERA LENS MODULE TEST SOCKET
(FR) PRISE D'ESSAI DE MODULE DE LENTILLE DE CAMÉRA
(KO) 카메라 렌즈 모듈 테스트 소켓
Abrégé :
(EN) The present invention relates to a camera lens module test socket configured of: a base plate installed on a printed circuit board connected to an inspection device; a lens module seating portion installed on the base plate and having an image sensor installed thereon for detecting a test image acquired through a camera lens module; 3 pogo blocks making a connection at 3 surfaces of the camera lens module seated in the lens module seating portion; a cam plate connecting a first and a second pogo block at both sides from among the 3 pogo blocks to both side surface terminals of the camera lens module, and connecting the center pogo block to a rear surface terminal of the camera lens module; and a pneumatic cylinder for moving the cam plate forward and backward so as to connect the three pogo blocks at the 3 surfaces of the camera lens module, etc., wherein the lifespan of pogo pins can be improved through a linear connection between the camera lens module and the pogo blocks, inspection speed can be improved by a simple structure, the minimization of components can reduce weight and costs, and production costs can be reduced through the reduction of production manpower due to the minimization of assembly processes.
(FR) La présente invention concerne une prise d'essai de module de lentille de caméra constituée : d'une plaque de base installée sur une carte de circuits imprimés connectée à un dispositif d'inspection ; une partie de siège de module de lentille installée sur la plaque de base et ayant un capteur d'image installé sur elle pour détecter une image d'essai acquise par l'intermédiaire d'un module de lentille de caméra ; 3 blocs pogo établissant une connexion à 3 surfaces du module de lentille de caméra siégeant dans la partie de siège de module de lentille ; une plaque de came connectant un premier et un second bloc pogo au niveau de deux côtés parmi les 3 blocs pogo aux deux bornes de surface latérale du module de lentille de caméra, et connectant le bloc pogo central à une borne de surface arrière du module de lentille de caméra ; et un cylindre pneumatique destiné à déplacer la plaque de came vers l'avant et vers l'arrière de manière à connecter les trois blocs pogo aux 3 surfaces du module de lentille de caméra, etc., la durée de vie de broches pogo pouvant être améliorée par l'intermédiaire d'une connexion linéaire entre le module de lentille de caméra et les blocs pogo, une vitesse d'inspection pouvant être améliorée par une structure simple, la réduction au minimum de composants pouvant réduire le poids et les coûts, et les coûts de production pouvant être réduits par la réduction de main d’œuvre de fabrication en raison de la réduction au minimum des processus d'assemblage.
(KO) 본 발명은 카메라 렌즈 모듈 테스트 소켓에 관한 것으로, 검사장치에 연결되는 인쇄회로 기판에 설치되는 베이스 플레이트와; 상기 베이스 플레이트에 설치되며 카메라 렌즈 모듈을 통해 획득되는 테스트 영상을 감지하는 이미지 센서가 설치되는 렌즈모듈 안착부와; 상기 렌즈모듈 안착부에 안착된 카메라 렌즈 모듈의 3면에서 접촉하는 3개의 포고 블록과; 상기 3개의 포고 블록 중 양쪽의 제1 및 제2 포고 블록을 상기 카메라 렌즈 모듈의 양쪽 측면단자에 접촉시키고, 중앙 포고블록은 상기 카메라 렌즈 모듈의 후면 단자에 접촉시키는 캠 플레이트와; 상기 캠 플레이트를 전,후진시켜 상기 3개의 포고 블록이 카메라 렌즈 모듈의 3면에서 접촉하게 하는 공압실린더 등으로 구성됨으로써 카메라 렌즈 모듈과 포고블록의 직선 접촉에 의해 포고핀의 수명을 향상시킬 수 있으며, 구조가 단순하여 검사속도를 향상시킬 수 있고, 부품을 최소화하여 경량화 및 원가절감 그리고 조립공정의 최소화로 인하여 생산인원의 감축을 통해 생산비를 절약할 수 있다.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)