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1. (WO2016152375) SONDE À ULTRASONS, DISPOSITIF DE DIAGNOSTIC PAR ULTRASONS ET PROCÉDÉ POUR TESTER DES SONDES À ULTRASONS

Pub. No.:    WO/2016/152375    International Application No.:    PCT/JP2016/055706
Publication Date: Fri Sep 30 01:59:59 CEST 2016 International Filing Date: Fri Feb 26 00:59:59 CET 2016
IPC: A61B 8/00
Applicants: HITACHI, LTD.
株式会社日立製作所
Inventors: KAJIYAMA Shinya
梶山 新也
IGARASHI Yutaka
五十嵐 豊
KATSUBE Yusaku
勝部 勇作
NISHIMOTO Takuma
西元 琢真
Title: SONDE À ULTRASONS, DISPOSITIF DE DIAGNOSTIC PAR ULTRASONS ET PROCÉDÉ POUR TESTER DES SONDES À ULTRASONS
Abstract:
Le but de l'invention est de permettre, sans réaliser un contact électrique avec une pluralité de bornes connectées à un oscillateur, de réaliser un test de recherche de défauts dans un circuit émetteur-récepteur interne à circuit intégré, avec de faibles coûts et sans dépasser la tension de claquage. Un circuit de commutation de séparation de transmission-réception qui utilise un transistor en tant qu'élément de commutation empêche la tension de claquage de grille-source d'être dépassée lorsqu'un signal de grande amplitude est entré en abaissant le potentiel de grille pendant le test pendant la réception et effectue un essai en boucle d'un signal interne sans endommager un circuit de réception.