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1. (WO2016152159) DISPOSITIF D'ÉVALUATION DE VALIDITÉ DE POINTS D'IMAGE DE PUCE À ADN, PROCÉDÉ D'ÉVALUATION DE VALIDITÉ DE POINTS D'IMAGE DE PUCE À ADN, ET PROGRAMME D'ÉVALUATION DE VALIDITÉ DE POINTS D'IMAGE DE PUCE À ADN

Pub. No.:    WO/2016/152159    International Application No.:    PCT/JP2016/001688
Publication Date: Fri Sep 30 01:59:59 CEST 2016 International Filing Date: Thu Mar 24 00:59:59 CET 2016
IPC: G01N 21/64
C12M 1/00
C12N 15/09
Applicants: TOYO SEIKAN GROUP HOLDINGS, LTD.
東洋製罐グループホールディングス株式会社
Inventors: KASHIWABARA, Ken
柏原 賢
OONUKI, Ryuuji
大貫 隆司
ISSHIKI, Atsunori
一色 淳憲
NAKAJIMA, Kazuki
中島 和輝
Title: DISPOSITIF D'ÉVALUATION DE VALIDITÉ DE POINTS D'IMAGE DE PUCE À ADN, PROCÉDÉ D'ÉVALUATION DE VALIDITÉ DE POINTS D'IMAGE DE PUCE À ADN, ET PROGRAMME D'ÉVALUATION DE VALIDITÉ DE POINTS D'IMAGE DE PUCE À ADN
Abstract:
L'invention permet d'éviter une détection erronée sur la base de la contamination ou sur la base d'un pseudo-point d'une image de puce à ADN, et d'améliorer la précision d'examens utilisant des puces à ADN. À cet effet, l'invention concerne un dispositif d'évaluation de la validité de points dans une image de puce à ADN obtenue par capture d'une image de la puce à ADN, sur laquelle des sondes ont été fixées, dans un état dans lequel un spécimen marqué a été lié aux sondes, le dispositif comprenant : une unité de traitement de binarisation multi-étage qui crée une pluralité d'images binarisées à partir de l'image de puce à ADN en utilisant, en tant que seuils à utiliser dans un procédé de binarisation d'image, une pluralité de seuils répartis sur la totalité de la plage de luminosité dans l'image de puce à ADN ; une unité de détection de position et de forme de point qui détecte les formes et les positions de points dans les images binarisées ; et une unité d'évaluation de position et de forme de point qui évalue l'acceptabilité des formes et des positions de points détectés par l'unité de détection de position et de forme de point.