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1. (WO2016152159) DISPOSITIF D'ÉVALUATION DE VALIDITÉ DE POINTS D'IMAGE DE PUCE À ADN, PROCÉDÉ D'ÉVALUATION DE VALIDITÉ DE POINTS D'IMAGE DE PUCE À ADN, ET PROGRAMME D'ÉVALUATION DE VALIDITÉ DE POINTS D'IMAGE DE PUCE À ADN
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/152159    N° de la demande internationale :    PCT/JP2016/001688
Date de publication : 29.09.2016 Date de dépôt international : 23.03.2016
CIB :
G01N 21/64 (2006.01), C12M 1/00 (2006.01), C12N 15/09 (2006.01)
Déposants : TOYO SEIKAN GROUP HOLDINGS, LTD. [JP/JP]; 18-1, Higashi-Gotanda 2-chome, Shinagawa-ku, Tokyo 1418627 (JP)
Inventeurs : KASHIWABARA, Ken; (JP).
OONUKI, Ryuuji; (JP).
ISSHIKI, Atsunori; (JP).
NAKAJIMA, Kazuki; (JP)
Mandataire : WATANABE, Kihei; (JP)
Données relatives à la priorité :
2015-064549 26.03.2015 JP
Titre (EN) DNA CHIP IMAGE SPOT VALIDITY ASSESSING DEVICE, DNA CHIP IMAGE SPOT VALIDITY ASSESSING METHOD, AND DNA CHIP IMAGE SPOT VALIDITY ASSESSING PROGRAM
(FR) DISPOSITIF D'ÉVALUATION DE VALIDITÉ DE POINTS D'IMAGE DE PUCE À ADN, PROCÉDÉ D'ÉVALUATION DE VALIDITÉ DE POINTS D'IMAGE DE PUCE À ADN, ET PROGRAMME D'ÉVALUATION DE VALIDITÉ DE POINTS D'IMAGE DE PUCE À ADN
(JA) DNAチップ画像のスポット有効性判定装置、DNAチップ画像のスポット有効性判定方法、及びDNAチップ画像のスポット有効性判定プログラム
Abrégé : front page image
(EN)The invention makes it possible to prevent erroneous detection based on contamination or based on a pseudo-spot in a DNA chip image, and to improve the accuracy of examinations employing DNA chips. A device for assessing the validity of spots in a DNA chip image obtained by capturing an image of the DNA chip, to which probes have been fixed, in a state in which a labeled specimen has been bound to the probes, the device being provided with: a multi-stage binarization processing unit which creates a plurality of binarized images from the DNA chip image using, as thresholds to be used in an image binarization process, a plurality of thresholds distributed over the entire range of brightness in the DNA chip image; a spot shape and position detecting unit which detects the shapes and positions of spots in the binarized images; and a spot shape and position assessing unit which assesses the acceptability of the spot shapes and positions detected by the spot shape and position detecting unit.
(FR)L'invention permet d'éviter une détection erronée sur la base de la contamination ou sur la base d'un pseudo-point d'une image de puce à ADN, et d'améliorer la précision d'examens utilisant des puces à ADN. À cet effet, l'invention concerne un dispositif d'évaluation de la validité de points dans une image de puce à ADN obtenue par capture d'une image de la puce à ADN, sur laquelle des sondes ont été fixées, dans un état dans lequel un spécimen marqué a été lié aux sondes, le dispositif comprenant : une unité de traitement de binarisation multi-étage qui crée une pluralité d'images binarisées à partir de l'image de puce à ADN en utilisant, en tant que seuils à utiliser dans un procédé de binarisation d'image, une pluralité de seuils répartis sur la totalité de la plage de luminosité dans l'image de puce à ADN ; une unité de détection de position et de forme de point qui détecte les formes et les positions de points dans les images binarisées ; et une unité d'évaluation de position et de forme de point qui évalue l'acceptabilité des formes et des positions de points détectés par l'unité de détection de position et de forme de point.
(JA) DNAチップ画像におけるゴミや擬似的なスポットに基づく誤検出を防止して、DNAチップを用いた検査の精度を向上させることを可能にする。プローブが固定化されたDNAチップにおいて、標識された被検査物がプローブに結合された状態で、DNAチップを撮影して得られるDNAチップ画像のスポット有効性判定装置であり、画像の二値化処理に用いられる閾値として、DNAチップ画像の輝度の全体に分布する複数の閾値を用いて、DNAチップ画像から複数の二値化画像を作成する多段階二値化処理部と、二値化画像におけるスポットの形状及び位置を検出するスポット形状及び位置検出部と、スポット形状及び位置検出部により検出されたスポットの形状及び位置の良否を判定するスポット形状及び位置判定部を備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)