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1. (WO2016152108) DISPOSITIF DE MESURE DE LUMIÈRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/152108    N° de la demande internationale :    PCT/JP2016/001540
Date de publication : 29.09.2016 Date de dépôt international : 17.03.2016
CIB :
G01N 21/41 (2006.01)
Déposants : NEC CORPORATION [JP/JP]; 7-1, Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001 (JP)
Inventeurs : AKAGAWA, Takeshi; (JP).
KUBO, Masahiro; (JP).
ABE, Katsumi; (JP).
TAKOH, Kimiyasu; (JP).
ALTINTAS, Ersin; (JP).
OHNO, Yuji; (JP).
ARIYAMA, Tetsuri; (JP)
Mandataire : SHIMOSAKA, Naoki; (JP)
Données relatives à la priorité :
2015-062054 25.03.2015 JP
Titre (EN) LIGHT MEASUREMENT DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE LUMIÈRE
(JA) 光測定装置
Abrégé : front page image
(EN)[Problem] To obtain interference light having stronger light intensity, and more accurately measure the refractive index of an object to be measured, by means of a simple feature. [Solution] This light measurement device 100 is provided with a phase adjustment unit 120, and a detector 140. The phase adjustment unit 120 outputs a reference light E(R) based on an object light E1, which is light obtained by transmission or reflection of light E from a light source by an object to be measured 200, and a signal light E(S) adjusted to a different phase from the signal light. On the basis of interference light E2 of the signal light E(S) and the reference light E(R) outputted by the phase adjustment unit 120, the detector 140 derives the refractive index or light intensity distribution of transmission or reflection by the object to be measured 200. The optical axis of the light E of the light source is a straight line, the phase adjustment unit 120 and the detector 140 being positioned on the optical axis of the light E of the light source.
(FR)Le problème abordé par la présente invention est d'obtenir une lumière d'interférence ayant une intensité lumineuse plus forte, et de mesurer avec plus de précision l'indice de réfraction d'un objet devant être mesuré, au moyen d'une caractéristique simple. La solution selon l'invention porte sur un dispositif de mesure de lumière 100 comportant une unité d'ajustement de phase 120, et un détecteur 140. L'unité d'ajustement de phase 120 émet une lumière de référence E(R) basée sur une lumière d'objet E1, qui est la lumière obtenue par transmission ou réflexion d'une lumière E provenant d'une source lumineuse par un objet devant être mesuré 200, et un signal lumineux E(S) ajusté en phase, dont la phase est différente du signal lumineux. Sur la base de lumière d'interférence E2 du signal lumineux E(S) et de la lumière de référence E(R) générée par l'unité d'ajustement de phase 120, le détecteur 140 dérive l'indice de réfraction ou la distribution des intensités lumineuses de transmission ou de réflexion par l'objet devant être mesuré 200. L'axe optique de la lumière E de la source lumineuse est rectiligne, l'unité d'ajustement de phase 120 et le détecteur 140 étant placés sur l'axe optique de la lumière E de la source lumineuse.
(JA)[課題]簡素な構成で、より強い光強度の干渉光を得ることができ、被測定物の屈折率をより正確に測定すること。 [解決手段]光測定装置100は、位相調整部120と、検出器140とを備えている。位相調整部120は、光源の光Eが被測定物200を透過または反射して得られる光である物体光E1に基づいた参照光E(R)と、信号光と異なる位相に調整された信号光E(S)とを出力する。検出器140は、位相調整部120により出力される信号光E(S)および参照光E(R)の干渉光E2に基づいて、被測定物200の透過や反射の光強度分布または屈折率を導出する。光源の光Eの光軸は、一直線状に設けられ、位相調整部120および検出器140は、光源の光Eの光軸上に設けられている。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)