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1. (WO2016152108) DISPOSITIF DE MESURE DE LUMIÈRE

Pub. No.:    WO/2016/152108    International Application No.:    PCT/JP2016/001540
Publication Date: Fri Sep 30 01:59:59 CEST 2016 International Filing Date: Fri Mar 18 00:59:59 CET 2016
IPC: G01N 21/41
Applicants: NEC CORPORATION
日本電気株式会社
Inventors: AKAGAWA, Takeshi
赤川 武志
KUBO, Masahiro
久保 雅洋
ABE, Katsumi
阿部 勝巳
TAKOH, Kimiyasu
田光 公康
ALTINTAS, Ersin
アルトゥンタシ エリスィン
OHNO, Yuji
大野 友嗣
ARIYAMA, Tetsuri
有山 哲理
Title: DISPOSITIF DE MESURE DE LUMIÈRE
Abstract:
Le problème abordé par la présente invention est d'obtenir une lumière d'interférence ayant une intensité lumineuse plus forte, et de mesurer avec plus de précision l'indice de réfraction d'un objet devant être mesuré, au moyen d'une caractéristique simple. La solution selon l'invention porte sur un dispositif de mesure de lumière 100 comportant une unité d'ajustement de phase 120, et un détecteur 140. L'unité d'ajustement de phase 120 émet une lumière de référence E(R) basée sur une lumière d'objet E1, qui est la lumière obtenue par transmission ou réflexion d'une lumière E provenant d'une source lumineuse par un objet devant être mesuré 200, et un signal lumineux E(S) ajusté en phase, dont la phase est différente du signal lumineux. Sur la base de lumière d'interférence E2 du signal lumineux E(S) et de la lumière de référence E(R) générée par l'unité d'ajustement de phase 120, le détecteur 140 dérive l'indice de réfraction ou la distribution des intensités lumineuses de transmission ou de réflexion par l'objet devant être mesuré 200. L'axe optique de la lumière E de la source lumineuse est rectiligne, l'unité d'ajustement de phase 120 et le détecteur 140 étant placés sur l'axe optique de la lumière E de la source lumineuse.