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1. (WO2016152075) DISPOSITIF DE DÉTERMINATION D'ÉTAT DE STRUCTURE, SYSTÈME DE DÉTERMINATION D'ÉTAT, ET PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION D'ÉTAT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/152075    N° de la demande internationale :    PCT/JP2016/001421
Date de publication : 29.09.2016 Date de dépôt international : 14.03.2016
CIB :
G01N 21/88 (2006.01), G01B 11/30 (2006.01), G01M 99/00 (2011.01)
Déposants : NEC CORPORATION [JP/JP]; 7-1, Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001 (JP)
Inventeurs : IMAI, Hiroshi; (JP)
Mandataire : SHIMOSAKA, Naoki; (JP)
Données relatives à la priorité :
2015-057047 20.03.2015 JP
Titre (EN) STRUCTURE STATUS DETERMINATION DEVICE, STATUS DETERMINATION SYSTEM, AND STATUS DETERMINATION METHOD
(FR) DISPOSITIF DE DÉTERMINATION D'ÉTAT DE STRUCTURE, SYSTÈME DE DÉTERMINATION D'ÉTAT, ET PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION D'ÉTAT
(JA) 構造物の状態判定装置と状態判定システムおよび状態判定方法
Abrégé : front page image
(EN)The purpose of the present invention is to accurately detect structures from a remote location without contact while distinguishing between defects such as cracking, separation, and internal cavities. This status determination device includes: a displacement calculation unit that calculates a two-dimensional spatial distribution of displacement in time-series images, said time-series images being taken before and after a load is applied to a surface of a structure; a correction amount calculation unit that calculates a correction amount from the two-dimensional spatial distribution of displacement in the time-series images, said correction amount being based on the amount of movement of the structure surface in the normal direction as induced by said loading; a displacement correction unit that subtracts the correction amount from the two-dimensional spatial distribution of displacement in the time-series images, and extracts a two-dimensional spatial distribution of displacement of the structure surface; and an abnormality determination unit for identifying defects in the structure on the basis of a comparison of the two-dimensional spatial distribution of displacement of the structure surface and a pre-prepared spatial distribution of displacement.
(FR)L'objectif de la présente invention est de détecter de manière précise des structures à partir d'un emplacement distant sans contact tout en distinguant les défauts tels que les fissures, les séparations et les cavités internes. À cet effet, l'invention concerne un dispositif de détermination d'état qui comprend : une unité de calcul de déplacement qui calcule une distribution spatiale bidimensionnelle de déplacement dans des images de série temporelle, lesdites images de série temporelle étant prises avant et après qu'une charge soit appliquée sur une surface d'une structure ; une unité de calcul de quantité de correction qui calcule une quantité de correction à partir de la distribution spatiale bidimensionnelle de déplacement dans les images de série temporelle, ladite quantité de correction étant basée sur la quantité de déplacement de la surface de la structure dans la direction normale induite par la charge ; une unité de correction de déplacement qui soustrait la quantité de correction à la distribution spatiale bidimensionnelle de déplacement dans les images de série temporelle, et extrait une distribution spatiale bidimensionnelle de déplacement de la surface de la structure ; et une unité de détermination d'anomalies pour identifier des défauts dans la structure sur la base d'une comparaison de la distribution spatiale bidimensionnelle de déplacement de la surface de la structure et d'une distribution spatiale de déplacement pré-préparée.
(JA)本発明は、構造物のひび割れや剥離や内部空洞などの欠陥を区別した検出を、遠隔から非接触で精度良く行うことを目的とする。本発明の状態判定装置は、構造物表面の荷重印加前後の時系列画像から、前記時系列画像の変位の2次元空間分布を算出する変位算出部と、前記時系列画像の変位の2次元空間分布から、前記荷重印加による前記構造物表面の法線方向への移動量に基づく補正量を算出する補正量算出部と、前記時系列画像の変位の2次元空間分布から前記補正量を差し引いて、前記構造物表面の変位の2次元空間分布を抽出する変位補正部と、前記構造物表面の変位の2次元空間分布と、予め備えられた変位の空間分布との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する異常判定部と、を有する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)