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1. (WO2016151780) SUPRACONDUCTEUR ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/151780    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/059002
Date de publication : 29.09.2016 Date de dépôt international : 24.03.2015
CIB :
H01B 12/06 (2006.01)
Déposants : KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA [JP/JP]; 1-1, Shibaura 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058001 (JP)
Inventeurs : ARAKI, Takeshi; (JP).
FUKE, Hiroyuki; (JP)
Mandataire : HYUGAJI, Masahiko; (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) SUPERCONDUCTOR AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME
(FR) SUPRACONDUCTEUR ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION
(JA) 超電導体及びその製造方法
Abrégé : front page image
(EN)According to an embodiment of the present invention, the superconductor includes a substrate, and a superconductive layer provided on the substrate. The superconduction layer has a first surface on the side of the substrate, and a second surface on the opposite side of the first surface. The lattice constant of the substrate substantially matches the lattice constant of the superconduction layer. The superconduction layer includes REA1-xREBxBa2Cu3O7-z. x is 0.01-0.40. z is 0.02-0.20. REA includes at least one of Y, Eu, Gd, Tb, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, and Lu. REB includes at least one of Nd and Sm. The superconduction layer has a first surface-side region which includes one portion of the first surface. The thickness of the first surface-side region in a first direction from the first surface toward the second surface is 70% of the average thickness of the superconduction layer in the first direction. The length of the first surface-side region in a second direction parallel to the first surface is 2 µm. The first surface-side region includes oriented first and second regions. The degree of orientation in the second region is lower than the degree of orientation in the first region. The length of the second region in the second direction is not larger than 0.15 times of the length of the first surface-side region.
(FR)Selon un mode de réalisation de la présente invention, le supraconducteur comprend un substrat, et une couche supraconductrice disposée sur le substrat. La couche supraconductrice a une première surface du côté du substrat, et une seconde surface sur le côté opposé de la première surface. La constante du réseau cristallin du substrat correspond sensiblement à la constante du réseau cristallin de la couche supraconductrice. La couche supraconductrice comprend REA1-xREBxBa2Cu3O7-z. x a une valeur de 0,01 à 0.40. z a une valeur de 0,02 à 0,20. REA comprend au moins un élément parmi Y, Eu, Gd, Tb, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, et Lu. REB comprend au moins un élément parmi Nd et Sm. La couche supraconductrice a une région côté première surface qui comprend une partie de la première surface. L'épaisseur de la région côté première surface dans une première direction de la première surface à la seconde surface est de 70 % de l'épaisseur moyenne de la couche supraconductrice dans la première direction. La longueur de la région côté première surface dans une seconde direction parallèle à la première surface est de 2 µm. La région côté première surface comprend des première et seconde régions orientées. Le degré d'orientation dans la seconde région est inférieur au degré d'orientation dans la première région. La longueur de la seconde région dans la seconde direction est inférieure ou égale à 0,15 fois la longueur de la région côté première surface.
(JA) 実施形態によれば、超電導体は、基材と、基材の上に設けられた超導電層と、を含む。超電導層は、基材の側の第1面と、第1面とは反対側の第2面と、を有する。基材の格子定数は、超電導層の格子定数と実質的に整合する。超電導層は、REA1-xREBBaCu7-zを含む。xは、0.01以上0.40以下である。zは、0.02以上0.20以下である。REAは、Y、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb及びLuの少なくとも1つを含む。REBは、Nd及びSmの少なくとも1つを含む。超電導層は、第1面の一部を含む第1面側領域を含む。第1面から第2面に向かう第1方向に沿った第1面側領域の厚さは、第1方向に沿った超電導層の平均の厚さの70%である。第1面に対して平行な第2方向に沿った第1面側領域の長さは、2μmである。第1面側領域は、配向性を有する第1領域と、第2領域と、を含む。第2領域における配向性は、第1領域における配向性よりも低い。第2方向に沿った第2領域の長さは、第1面側領域の長さの0.15倍以下である。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)