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1. (WO2016151712) TÊTE D'USINAGE OPTIQUE, DISPOSITIF D'USINAGE OPTIQUE, PROCÉDÉ DE COMMANDE DE DISPOSITIF D'USINAGE OPTIQUE ET PROGRAMME DE COMMANDE DE DISPOSITIF D'USINAGE OPTIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/151712    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/058624
Date de publication : 29.09.2016 Date de dépôt international : 20.03.2015
CIB :
B23K 26/34 (2014.01), B23K 26/00 (2014.01), B23K 26/21 (2014.01), B29C 67/00 (2006.01)
Déposants : TECHNOLOGY RESEARCH ASSOCIATION FOR FUTURE ADDITIVE MANUFACTURING [JP/JP]; 6F Nihonbashi First Bldg., 2-19, Nihonbashi 1-chome, Chuo-ku, Tokyo 1030027 (JP)
Inventeurs : OHNO Hiroshi; (JP).
OBARA Takashi; (JP).
SASAKI Yuji; (JP).
SASAKI Mitsuo; (JP).
MASUKAWA Kazuyuki; (JP)
Mandataire : KATO Takashi; (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) OPTICAL MACHINING HEAD, OPTICAL MACHINING DEVICE, OPTICAL MACHINING DEVICE CONTROL METHOD, AND OPTICAL MACHINING DEVICE CONTROL PROGRAM
(FR) TÊTE D'USINAGE OPTIQUE, DISPOSITIF D'USINAGE OPTIQUE, PROCÉDÉ DE COMMANDE DE DISPOSITIF D'USINAGE OPTIQUE ET PROGRAMME DE COMMANDE DE DISPOSITIF D'USINAGE OPTIQUE
(JA) 光加工ヘッド、光加工装置、その制御方法及び制御プログラム
Abrégé : front page image
(EN)The present description discloses an optical machining head (100) which is provided with a light guide unit (101) that guides a machining beam (111) to a surface to be machined (120). The light guide unit (101) is configured to also guide an inspection beam (112) to the surface to be machined (120), said inspection beam having a wavelength different from that of the machining beam (111). The optical machining head (100) is also provided with an inspection unit (102) that inspects the state of the surface to be machined (120) on the basis of reflection light (113) of the inspection beam (112), said reflection beam having been reflected by the surface to be machined (120). The state of the surface to be machined (120) can be simply inspected by means of the optical machining head (100), even during a time when the optical machining is performed.
(FR)La présente invention concerne une tête d'usinage optique (100) qui comporte une unité de guidage de lumière (101) qui guide un faisceau d'usinage (111) jusque sur une surface à usiner (120). L'unité de guidage de lumière (101) est configurée pour également guider un faisceau d'inspection (112) sur la surface à usiner (120), ledit faisceau d'inspection ayant une longueur d'onde différente de celle du faisceau d'usinage (111). La tête d'usinage optique (100) comporte également une unité d'inspection (102) qui inspecte l'état de la surface à usiner (120) en fonction de la lumière de réflexion (113) du faisceau d'inspection (112), ledit faisceau de réflexion ayant été réfléchi par la surface à usiner (120). L'état de la surface à usiner (120) peut être simplement inspecté au moyen de la tête d'usinage optique (100), même au cours de l'usinage optique.
(JA)加工用の光線(111)を加工面(120)へ導く導光部(101)を備えた光加工ヘッド(100)が本明細書に開示されている。その導光部(101)は、さらに、加工用の光線(111)とは異なる波長をもつ検査用の光線(112)をも加工面(120)へと導く構成となっている。そして、光加工ヘッド(100)は、加工面(120)で反射された検査用の光線(112)の反射光(113)に基づいて、加工面(120)の状態を検査する検査部(102)をさらに備えている。この光加工ヘッド(100)により、光加工中であっても簡便に加工面(120)の状態を検査することができるようになった。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)