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1. (WO2016151666) MICROSCOPE À ÉCLAIRAGE STRUCTURÉ, PROCÉDÉ D'OBSERVATION ET PROGRAMME DE TRAITEMENT D'IMAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2016/151666 N° de la demande internationale : PCT/JP2015/058420
Date de publication : 29.09.2016 Date de dépôt international : 20.03.2015
CIB :
G02B 21/06 (2006.01) ,G01N 21/64 (2006.01)
Déposants : NIKON CORPORATION[JP/JP]; 15-3, Konan 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1086290, JP
Inventeurs : MIMURA, Masafumi; JP
YOSHIDA, Takahiko; JP
TERUI, Yuki; JP
Mandataire : NISHI, Kazuya; JP
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) STRUCTURED ILLUMINATION MICROSCOPE, OBSERVATION METHOD, AND IMAGE PROCESSING PROGRAM
(FR) MICROSCOPE À ÉCLAIRAGE STRUCTURÉ, PROCÉDÉ D'OBSERVATION ET PROGRAMME DE TRAITEMENT D'IMAGE
(JA) 構造化照明顕微鏡、観察方法、及び画像処理プログラム
Abrégé : front page image
(EN) [Problem] To provide a structured illumination microscope that can ensure interference fringe contrast while reducing noise. [Solution] A structured illumination microscope (1) that is provided with: an illumination optical system (11) that irradiates a sample (X) with an interference fringe of excitation light that is for exciting a fluorescent substance contained in the sample; a control unit (41) that controls the orientation and the phase of the interference fringe; an image-forming optical system (31) that forms images of the sample when the sample is irradiated with the interference fringe; an imaging element (32) that captures images of the images formed by the image-forming optical system and generates captured images; and an image processing unit (40) that uses the captured images to perform demodulation processing. The image processing unit is provided with: a filter processing unit that performs filter processing in frequency regions of the captured images or of images generated from the captured images; a noise reduction processing unit that performs noise reduction processing on images that have undergone the filter processing; and a demodulation unit that uses images that have undergone the noise reduction processing to perform demodulation processing.
(FR) L'invention vise à proposer un microscope à éclairage structuré permettant d'obtenir un contraste de franges d'interférence tout en réduisant le bruit. À cet effet, un microscope à éclairage structuré (1) selon l'invention comprend : un système optique d'éclairage (11) qui expose un échantillon (X) à une frange d'interférence de lumière d'excitation destinée à exciter une substance fluorescente contenue dans l'échantillon ; une unité de commande (41) qui commande l'orientation et la phase de la frange d'interférence ; un système optique de formation d'image (31) qui forme des images de l'échantillon lorsque l'échantillon est exposé à la frange d'interférence ; un élément d'imagerie (32) qui capture des images parmi les images formées par le système optique de formation d'image et génère des images capturées ; et une unité de traitement d'image (40) qui utilise les images capturées pour effectuer un traitement de démodulation. L'unité de traitement d'image comprend : une unité de traitement de filtrage qui effectue un traitement de filtrage dans des zones de fréquence des images capturées ou d'images générées à partir des images capturées ; une unité de traitement de réduction de bruit qui effectue un traitement de réduction de bruit sur des images qui ont subi le traitement de filtrage ; et une unité de démodulation qui utilise des images qui ont subi le traitement de réduction de bruit pour effectuer un traitement de démodulation.
(JA) 【課題】干渉縞のコントラストを確保しつつノイズを低減することが可能な構造化照明顕微鏡を提供する。 【解決手段】構造化照明顕微鏡(1)は、試料(X)に含まれる蛍光物質を励起するための励起光を、干渉縞で試料に照射する照明光学系(11)と、干渉縞の方向および位相を制御する制御部(41)と、干渉縞が照射された試料の像を形成する結像光学系(31)と、結像光学系が形成した像を撮像して撮像画像を生成する撮像素子(32)と、撮像画像を用いて復調処理を行う画像処理部(40)と、を備える構造化照明顕微鏡であって、画像処理部は、撮像画像または撮像画像から生成された画像の周波数領域においてフィルタ処理を行うフィルタ処理部と、フィルタ処理が行われた画像に対してノイズ低減処理を行うノイズ低減処理部と、ノイズ低減処理が行われた画像を用いて復調処理を行う復調部と、を備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)