WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2016151633) PROCÉDÉ DE MESURAGE DE LA TRAJECTOIRE DE BALAYAGE D'UN DISPOSITIF DE BALAYAGE OPTIQUE, DISPOSITIF DE MESURAGE DE LA TRAJECTOIRE DE BALAYAGE, ET PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE D'IMAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/151633    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/001701
Date de publication : 29.09.2016 Date de dépôt international : 25.03.2015
CIB :
G02B 26/10 (2006.01), A61B 1/00 (2006.01), G02B 21/06 (2006.01), G02B 23/26 (2006.01)
Déposants : OLYMPUS CORPORATION [JP/JP]; 2951 Ishikawa-machi, Hachioji-shi, Tokyo 1928507 (JP)
Inventeurs : NAMIKI, Mitsuru; (JP)
Mandataire : SUGIMURA, Kenji; (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) METHOD FOR MEASURING SCANNING TRAJECTORY OF OPTICAL SCANNING DEVICE, SCANNING TRAJECTORY MEASUREMENT DEVICE, AND IMAGE CALIBRATION METHOD
(FR) PROCÉDÉ DE MESURAGE DE LA TRAJECTOIRE DE BALAYAGE D'UN DISPOSITIF DE BALAYAGE OPTIQUE, DISPOSITIF DE MESURAGE DE LA TRAJECTOIRE DE BALAYAGE, ET PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE D'IMAGE
(JA) 光走査装置の走査軌跡測定方法、走査軌跡測定装置及び画像キャリブレーション方法
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a scanning trajectory measuring device for an optical scanning device that allows the effect of stray light to be easily reduced and the accuracy in measuring the scanning trajectory to be improved. A scanning trajectory measuring device for an optical scanning device 100 generates a display image of an irradiated object by scanning the irradiated object with illumination light, the scanning trajectory measuring device including a screen 11 scanned with the illumination light, and an optical position detector 12 for detecting the position of an irradiation spot from the illumination light on the screen 11. The scanning trajectory measuring device measures the scanning trajectory of the illumination light with the optical position detector 12 sequentially detecting the position of the irradiation spots at a plurality of predetermined time points during the scanning on the screen.
(FR)L'invention concerne un procédé de mesurage de la trajectoire de balayage d'un dispositif de balayage optique. L'invention réduit l'effet de lumière parasite et améliore le mesurage de la trajectoire de balayage. Un dispositif de mesurage de la trajectoire de balayage d'un dispositif de balayage optique 100 génère une image d'affichage d'un objet irradié, en balayant l'objet irradié avec une lumière d'éclairage. Le dispositif de mesurage de la trajectoire de balayage comprend un écran 11 balayé par la lumière d'éclairage, et un détecteur de position optique 12 pour détecter la position d'un point d'irradiation provenant de la lumière d'éclairage sur l'écran 11. Le dispositif de mesurage de la trajectoire de balayage mesure la trajectoire de balayage de la lumière d'éclairage avec le détecteur de position optique 12 en détectant séquentiellement la position des points d'irradiation à une pluralité de points temporels prédéterminés durant le balayage sur l'écran.
(JA)迷光の影響を容易に軽減できて走査軌跡の測定精度を向上できる光走査装置の走査軌跡測定装置を提供する。 照明光により被照射物を走査して該被照射物の表示画像を生成する光走査装置100の走査軌跡測定装置であって、照明光により走査されるスクリーン11と、スクリーン11上での照明光の照射スポットの位置を検出する光位置検出器12と、を備え、スクリーン11の走査中に所定の複数の時間ポイントで光位置検出器12により照射スポットの位置を順次検出して照明光の走査軌跡を測定する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)