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1. (WO2016150927) SYSTÈME DE MESURE ET PROCÉDÉ POUR INTERROGER DES CAPTEURS OPTIQUES BIRÉFRINGENTS AVEC UN INTERROGATEUR À SOURCE À BALAYAGE DE FRÉQUENCE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2016/150927 N° de la demande internationale : PCT/EP2016/056181
Date de publication : 29.09.2016 Date de dépôt international : 21.03.2016
CIB :
G01D 5/353 (2006.01)
Déposants : FAZ TECHNOLOGY LTD.[IE/IE]; 9C Beckett Way Park West Dublin, 12, IE
Inventeurs : IBRAHIM, Selwan K.; IE
O'DOWD, John; IE
KARABACAK, Devrez Mehmet; IE
Mandataire : LUCEY, Michael; IE
Données relatives à la priorité :
15160185.320.03.2015EP
62/135,84320.03.2015US
Titre (EN) MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD TO INTERROGATE BIREFRINGENT OPTICAL SENSORS WITH A FREQUENCY SWEPT SOURCE BASED INTERROGATOR
(FR) SYSTÈME DE MESURE ET PROCÉDÉ POUR INTERROGER DES CAPTEURS OPTIQUES BIRÉFRINGENTS AVEC UN INTERROGATEUR À SOURCE À BALAYAGE DE FRÉQUENCE
Abrégé : front page image
(EN) The invention provides a measurement system to interrogate at least one birefringent optical sensor and a method to interrogate birefringent optical sensors at high speed and high resolution. The system and method detects, at least, a first and a second spectral feature that are polarization dependent, wherein the detected first and second spectral features correspond to different responses of at least one birefringent optical sensor.
(FR) L'invention concerne un système de mesure pour interroger au moins un capteur optique biréfringent et un procédé pour interroger des capteurs optiques biréfringents à grande vitesse et haute résolution. Le système et le procédé détectent, au moins, une première et une seconde caractéristique spectrale qui dépendent de la polarisation, les première et seconde caractéristiques spectrales détectées correspondant à différentes réponses d'au moins un capteur optique biréfringent.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)