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1. (WO2016149724) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF POUR MESURER UN PROFILÉ LONGITUDINAL
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2016/149724 N° de la demande internationale : PCT/AT2016/050073
Date de publication : 29.09.2016 Date de dépôt international : 23.03.2016
CIB :
G01B 11/25 (2006.01)
Déposants : NEXTSENSE GMBH[AT/AT]; Straßganger Straße 295 8053 Graz, AT
Inventeurs : CLEMENS, Gasser; AT
FRIEDRICH PETER, Kaufmann; AT
EDUARD, Luttenberger; AT
ALBERT, Niel; AT
Mandataire : WIRNSBERGER, Gernot; AT
Données relatives à la priorité :
A 50237/201524.03.2015AT
Titre (EN) METHOD AND DEVICE FOR MEASURING A LONG PROFILE
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF POUR MESURER UN PROFILÉ LONGITUDINAL
(DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM VERMESSEN EINES LANGPROFILES
Abrégé : front page image
(EN) The invention relates to a method for measuring a long profile (2), in particular one at an increased temperature, wherein a cross-section of the long profile (2) is determined, wherein the long profile (2) is measured using a light section sensor (4) that is moveably mounted on a swivel device (3). The invention also relates to a device for measuring a long profile (2), in particular one at an increased temperature, comprising a measuring device for determining a cross-section of the long profile (2), wherein a swivel device (3) is provided and the measuring device is formed as a light section sensor (4), wherein the light section sensor (4) is moveably mounted on the swivel device (3). The invention further relates to a use of a device (1) of this type.
(FR) L'invention concerne un procédé pour mesurer un profilé longitudinal (2) se trouvant notamment à une température élevée, une section transversale du profilé longitudinal (2) étant détectée et le profilé longitudinal (2) étant mesuré au moyen d'un capteur de coupe optique (4) logé coulissant sur un dispositif de pivotement (3). L'invention concerne également un dispositif pour mesurer un profilé longitudinal (2) se trouvant notamment à une température élevée, comportant un système de mesure pour détecter une section transversale du profilé longitudinal (2), un dispositif de pivotement (3) étant prévu et le dispositif de mesure étant conçu en tant que capteur de coupe optique (4). Le capteur de coupe optique (4) est logé coulissant sur le dispositif de pivotement (3). L'invention concerne également une utilisation d'un tel dispositif (1).
(DE) Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Vermessen eines insbesondere auf einer erhöhten Temperatur befindlichen Langprofiles (2), wobei ein Querschnitt des Langprofiles (2) festgestellt wird, wobei das Langprofil (2) mit einem verschiebbar an einer Schwenkvorrichtung (3) gelagerten Lichtschnittsensor (4) vermessen wird. Weiter betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zum Vermessen eines insbesondere auf einer erhöhten Temperatur befindlichen Langprofiles (2), umfassend eine Messeinrichtung zur Feststellung eines Querschnittes des Langprofiles (2), wobei eine Schwenkvorrichtung (3) vorgesehen ist und die Messeinrichtung als Lichtschnittsensor (4) ausgebildet ist, wobei der Lichtschnittsensor (4) verschiebbar an der Schwenkvorrichtung (3) gelagert ist. Des Weiteren betrifft die Erfindung eine Verwendung einer solchen Vorrichtung (1).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)