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1. (WO2016148979) DÉTECTION DE CLIGNOTEMENT À L’AIDE D’UNE SOURCE DE LUMIÈRE À SEMI-CONDUCTEUR
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2016/148979 N° de la demande internationale : PCT/US2016/021348
Date de publication : 22.09.2016 Date de dépôt international : 08.03.2016
CIB :
H04N 5/235 (2006.01) ,H04N 5/225 (2006.01) ,H04N 5/353 (2011.01)
Déposants : APPLE INC.[US/US]; 1 Infinite Loop Cupertino, California 95014, US
Inventeurs : TAO, Douglas K.; US
SHARMA, Anup K.; US
Mandataire : KOWERT, Robert; US
Données relatives à la priorité :
14/827,14114.08.2015US
62/133,10813.03.2015US
Titre (EN) FLICKER DETECTION USING SEMICONDUCTOR LIGHT SOURCE
(FR) DÉTECTION DE CLIGNOTEMENT À L’AIDE D’UNE SOURCE DE LUMIÈRE À SEMI-CONDUCTEUR
Abrégé : front page image
(EN) Devices and methods for adjusting an exposure window of a rolling shutter based on a frequency determined from ambient light gathered by a bimodal component are disclosed. Flickering light sources may cause artifacts in captured images, due to interplay between a period of a frequency of ambient light and the exposure window. An image capture device includes a semiconductor component configured to operate in two modes and an exposure window control component configured to compensate for the flickering based on a signal from the light source. In a sensor mode, the semiconductor component may operate to detect the frequency of ambient light. To avoid image artifacts, the frequency of the ambient light is analyzed and an exposure time is adjusted to an integer multiple of the period of the frequency such that exposure is matched to the periodic illumination of the flickering light source.
(FR) L’invention concerne des dispositifs et des procédés pour ajuster une fenêtre d’exposition d’un obturateur déroulant sur la base d’une fréquence déterminée par la lumière ambiante rassemblée par un élément bimodal. Des sources de lumière clignotantes peuvent entraîner des artéfacts dans des images capturées, en raison de l’influence réciproque entre une période d’une fréquence de lumière ambiante et la fenêtre d’exposition. Un dispositif de capture d’image comprend un élément semi-conducteur configuré pour fonctionner dans deux modes et un élément de commande de fenêtre d’exposition configuré pour compenser le clignotement sur la base d’un signal provenant de la source de lumière. Dans un mode de capteur, l’élément semi-conducteur peut fonctionner pour détecter la fréquence de la lumière ambiante. Pour éviter des artéfacts d’image, la fréquence de la lumière ambiante est analysée et un temps d’exposition est ajusté à un nombre entier multiple de la période de la fréquence de telle sorte que l’exposition est mise en correspondance avec l’éclairage périodique de la source de lumière cloignotante.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)