WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2016148167) SYSTÈME DE MESURE D'ÉCHANTILLONS, ET PROCÉDÉ DE CHARGEMENT ET DE DÉCHARGEMENT DE PORTE-ÉCHANTILLONS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/148167    N° de la demande internationale :    PCT/JP2016/058253
Date de publication : 22.09.2016 Date de dépôt international : 16.03.2016
CIB :
G01N 35/04 (2006.01), G01N 35/02 (2006.01)
Déposants : SYSMEX CORPORATION [JP/JP]; 5-1, Wakinohama-Kaigandori 1-chome, Chuo-ku, Kobe-shi Hyogo 6510073 (JP)
Inventeurs : TATSUTANI Hiroo; (JP).
OHMAE Yuichiro; (JP).
KUMAGAI Atsushi; (JP)
Mandataire : OSAKA Masahiro; (JP)
Données relatives à la priorité :
2015-054690 18.03.2015 JP
Titre (EN) SPECIMEN MEASUREMENT SYSTEM, AND RACK LOADING AND UNLOADING METHOD
(FR) SYSTÈME DE MESURE D'ÉCHANTILLONS, ET PROCÉDÉ DE CHARGEMENT ET DE DÉCHARGEMENT DE PORTE-ÉCHANTILLONS
(JA) 検体測定システム及びラック搬出搬入方法
Abrégé : front page image
(EN) Provided are a specimen measurement system and a rack loading and unloading method with which limited space can be efficiently used. This specimen measurement system (100) comprises measurement units (10), a conveyance unit (20), a plurality of loading and unloading units (30), and a control unit (500). The loading and unloading units (30) can arrange a plurality of racks (60) in a row in a first direction, and unload the arranged racks. The conveyance unit (20) conveys the racks (60) via the measurement units (10). The loading and unloading units (30) load the racks (60) conveyed by the conveyance unit (20). The loading and unloading units (30) are arranged in a row in a second direction that intersects with the first direction, and each loading and unloading unit (30) unloads the racks (60) from one side in the first direction and loads the racks (60) from the other side in the first direction.
(FR)L'invention concerne un système de mesure d'échantillons et un procédé de chargement et de déchargement de porte-échantillons qui permet d'utiliser efficacement un espace limité. Le système de mesure d'échantillons (100) selon l'invention comprend des unités de mesure (10), une unité de transport (20), une pluralité d'unités de chargement et de déchargement (30), et une unité de commande (500). Les unités de chargement et de déchargement (30) peuvent aligner une pluralité de porte-échantillons (60) dans une première direction, et décharger les porte-échantillons alignés. L'unité de transport (20) transporte les porte-échantillons (60) en passant par les unités de mesure (10). Les unités de chargement et de déchargement (30) chargent les porte-échantillons (60) transportés par l'unité de transport (20). Les unités de chargement et de déchargement (30) sont alignées dans une seconde direction qui coupe la première direction, et chaque unité de chargement et de déchargement (30) décharge les porte-échantillons (60) d'un côté dans la première direction et charge les porte-échantillons (60) de l'autre côté dans la première direction.
(JA) 限られた面積を効率的に使用することができる検体測定システム及びラック搬出搬入方法を提供する。 検体測定システム(100)は、測定ユニット(10)と、搬送ユニット(20)と、複数の搬出搬入ユニット(30)と、制御部(500)とを備える。搬出搬入ユニット(30)は、第1方向に並べて複数のラック(60)を設置可能であり、設置されたラックを搬出する。搬出搬送ユニット(20)は、測定ユニット(10)を経由してラック(60)を搬送する。搬出搬入ユニット(30)は、搬送ユニット(20)によって搬送されたラック(60)を搬入する。各搬出搬入ユニット(30)は、第1方向と交差する第2方向に並べて配置されており、第1方向の一方側からラック(60)を搬出し、他方側からラック(60)を搬入する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)