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1. (WO2016147253) DISPOSITIF DE MESURE D'ONDES TÉRAHERTZ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2016/147253 N° de la demande internationale : PCT/JP2015/057487
Date de publication : 22.09.2016 Date de dépôt international : 13.03.2015
CIB :
G01N 21/3581 (2014.01)
[IPC code unknown for G01N 21/3581]
Déposants : HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION[JP/JP]; 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717, JP
Inventeurs : SHIRAMIZU Nobuhiro; JP
MIKAMI Hideharu; JP
WATANABE Koichi; JP
Mandataire : HIRAKI Yusuke; JP
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) TERAHERTZ WAVE MEASURING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE D'ONDES TÉRAHERTZ
(JA) テラヘルツ波測定装置
Abrégé :
(EN) Provided is a terahertz wave measuring device that can provide means for improving sensitivity, removing unnecessary light, and phase difference detection. The terahertz wave measuring device comprises a pulsed laser light generation unit 1 that generates pump light 3, a seed light generation unit 2 that generates seed light, a terahertz wave generator 5 on which the pump light and the seed light are incident and that generates terahertz waves, a terahertz wave detector 8 on which the terahertz waves that are generated from the terahertz wave generator and that have interacted with a measurement object 7 and the pump light are incident and that generates terahertz wave detection light 9, an interference optical system 11 that multiplexes the terahertz wave detection light and reference light 14 of the same wavelength as the terahertz wave detection light to generate a plurality of interfering light beams 12 having phase relationships different from one another, a plurality of light detectors 13 that detect the interfering light beams, and a signal processing unit 16 that outputs an intensity signal and/or a phase signal of the terahertz waves that have interacted with the measurement object by performing arithmetic operations on the outputs of the plurality of light detectors.
(FR) L'invention concerne un dispositif de mesure d'ondes térahertz qui peut fournir un moyen permettant d'améliorer la sensibilité, d'éliminer la lumière inutile ainsi qu'une détection de différence de phase. Le dispositif de mesure d'ondes térahertz comprend une unité de génération de lumière laser pulsée (1) qui génère une lumière de pompage (3), une unité de génération de lumière d'ensemencement (2) qui génère une lumière d'ensemencement, un générateur d'ondes térahertz (5) sur lequel la lumière de pompage et la lumière d'ensemencement sont incidentes et qui génère des ondes térahertz, un détecteur d'ondes térahertz (8) sur lequel sont incidentes les ondes térahertz qui sont générées à partir du générateur d'ondes térahertz et qui ont interagi avec un objet de mesure (7) et la lumière de pompage, et qui génère la lumière de détection d'ondes térahertz (9), un système optique d'interférence (11) qui multiplexe la lumière de détection d'ondes térahertz et une lumière de référence (14) ayant la même longueur d'onde que la lumière de détection d'ondes térahertz pour générer une pluralité de rayons de lumière interférente (12) ayant des relations de phase différentes les unes des autres, une pluralité de détecteurs de lumière (13) qui détectent les rayons de lumière interférente, et une unité de traitement de signal (16) qui transmet un signal d'intensité et/ou un signal de phase des ondes térahertz qui ont interagi avec l'objet de mesure en effectuant des opérations arithmétiques sur les sorties de la pluralité de détecteurs de lumière.
(JA)  感度向上と不要光の除去と位相差検出の手段を提供するテラヘルツ波測定装置であり、ポンプ光3を発生させるパルスレーザ光発生部1、シード光を発生させるシード光発生部2、ポンプ光とシード光とが入射されテラヘルツ波を発生するテラヘルツ波発生器5、テラヘルツ波発生器から発生され測定対象7と相互作用したテラヘルツ波とポンプ光とが入射されテラヘルツ波検出光9を発生するテラヘルツ波検出器8、テラヘルツ波検出光と当該テラヘルツ波検出光と同一波長の参照光14とを合波して互いに位相関係の異なる複数の干渉光12を生成する干渉光学系11、干渉光を検出する複数の光検出器13、複数の光検出器の出力を演算して測定対象と相互作用したテラヘルツ波の強度信号及び/又は位相信号を出力する信号処理部16を有する。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
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Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)