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1. (WO2016146451) SONDE DE CONTACT POUR TÊTE D'ESSAI
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2016/146451 N° de la demande internationale : PCT/EP2016/055023
Date de publication : 22.09.2016 Date de dépôt international : 09.03.2016
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 : 13.10.2016
CIB :
G01R 1/073 (2006.01) ,G01R 1/067 (2006.01) ,H01R 13/24 (2006.01)
Déposants : TECHNOPROBE S.P.A.[IT/IT]; Via Cavalieri di Vittorio Veneto, 2 23870 Cernusco Lombardone (LC), IT
Inventeurs : CRIPPA, Roberto; IT
CRIPPA, Giuseppe; IT
VALLAURI, Raffaele; IT
Mandataire : FERRARI, Barbara; IT
Données relatives à la priorité :
MI2015A000382 (102015902338004)13.03.2015IT
Titre (EN) CONTACT PROBE FOR A TESTING HEAD
(FR) SONDE DE CONTACT POUR TÊTE D'ESSAI
Abrégé : front page image
(EN) A contact probe (10) for a testing head of a testing apparatus of electronic devices is described, the contact probe (10) comprising a body essentially extended in a longitudinal direction between respective end portions adapted to contact respective contact pads. Suitably, at least one end portion (10A) comprises an insert (20) made of a first conductive material having a hardness being greater than a second conductive material, which the contact probe (10) is made of, the insert (20) being supported by a section (21) of the end portion (10A), the section (21) being made of the second conductive material and being shaped so as to have a shape that is complementary to the insert (20) and to have respective abutting surfaces (21A, 21B) facing and adhering to respective abutting surfaces (20A, 20B) of the insert (20).
(FR) L'invention concerne une sonde de contact (10) pour une tête d'essai d'un appareil d'essai de dispositifs électroniques, la sonde de contact (10) comprenant un corps sensiblement étendu dans une direction longitudinale entre des parties d'extrémité respectives adaptées pour entrer en contact avec plots de contact respectifs. De façon appropriée, au moins une partie d'extrémité (10A) comprend un insert (20) constitué d'un premier matériau conducteur ayant une dureté supérieure à un second matériau conducteur, dont la sonde de contact (10) est constituée, l'insert (20) étant porté par une section (21) de la partie d'extrémité (10A), la section (21) étant constituée du second matériau conducteur et étant façonné de manière à avoir une forme qui est complémentaire de l'insert (20) et à avoir des surfaces de butée respectives (21A, 21B) faisant face et adhérant à des surfaces de butée respectives (20A, 20B) de l'insert (20).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)