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1. (WO2016145848) DISPOSITIF DE CONNEXION D'ESSAI, SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE CONNEXION D'ESSAI AUTOMATIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/145848    N° de la demande internationale :    PCT/CN2015/092323
Date de publication : 22.09.2016 Date de dépôt international : 20.10.2015
CIB :
H04B 17/00 (2015.01)
Déposants : ZTE CORPORATION [CN/CN]; ZTE Plaza, Keji Road South Hi-Tech Industrial Park, Nanshan District Shenzhen, Guangdong 518057 (CN)
Inventeurs : MA, Yan; (CN).
GUAN, Konghui; (CN)
Mandataire : KANGXIN PARTNERS, P. C.; Floor 16, Tower A, Indo Building A48 Zhichun Road, Haidian District Beijing 100098 (CN)
Données relatives à la priorité :
201510466780.3 03.08.2015 CN
Titre (EN) TEST CONNECTION DEVICE, SYSTEM AND AUTOMATIC TEST CONNECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF DE CONNEXION D'ESSAI, SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE CONNEXION D'ESSAI AUTOMATIQUE
(ZH) 测试搭接装置、系统及测试自动搭接方法
Abrégé : front page image
(EN)Disclosed are a test connection device, system, and automatic test connection method. The test connection device comprises: a communication module communicating with a host computer and used to receive a control message transmitted by the host computer, wherein the control message comprises a control instruction indicative of establishing a connection to a network element next to be tested; a test control module connected to several network elements under test respectively, wherein each of the network elements under test is connected to the test control module via four connections, a switch unit automatically turned on according to the control instruction is disposed in each of the connections. The present invention connects a server to a plurality of network elements under test via the test connection device, and performs a sequentially automatic test for the plurality of network elements under test by the control instruction transmitted from the server to control a switch of the switch unit, thus greatly improving a test efficiency, decreasing, to a certain extent, a number of test servers, and reducing costs.
(FR)L’invention concerne un dispositif de connexion d'essai, un système et un procédé de connexion d'essai automatique. Le dispositif de connexion d'essai comprend : un module de communication communiquant avec un ordinateur hôte et utilisé pour recevoir un message de commande transmis par l’ordinateur hôte, le message de commande comprenant une instruction de commande indicative de l’établissement d’une connexion avec un élément de réseau suivant à essayer ; un module de commande d'essai connecté à plusieurs éléments de réseau en cours d'essai respectivement, chacun des éléments de réseau en cours d'essai étant connecté au module de commande d'essai par l’intermédiaire de quatre connexions, une unité de commutateur mise automatiquement sous tension selon l’instruction de commande étant disposée dans chacune des connexions. La présente invention connecte un serveur à une pluralité d’éléments de réseau en cours d'essai par l’intermédiaire du dispositif de connexion d'essai, et réalise un essai séquentiellement automatique pour la pluralité d’éléments de réseau en cours d'essai par l’instruction de commande transmise à partir du serveur pour commander un commutateur de l’unité de commutateur, permettant ainsi d’améliorer de manière considérable une efficacité d'essai, de diminuer, dans une certaine mesure, un nombre de serveurs d'essai, et de réduire les coûts.
(ZH)本发明公开了一种测试搭接装置、系统及测试自动搭接方法,测试搭接装置,包括:通信模块,与上位机进行通信,以及用于接收上位机下发的控制消息;所述控制消息包括连通下一个被测试网元连接线路的控制指令;测试控制模块,分别与若干个被测试网元连接;每个被测试网元通过四路连接线与所述测试控制模块连接,其中,每路连接线上设置有根据所述控制指令自动打开的开关单元。本发明通过测试搭接装置,实现了一台服务器与多个测试网元的连接,通过发送控制指令,控制开关单元的闭合,可以实现对多个测试网元的依次自动化测试,大大提高了测试效率,也一定程度上降低了测试服务器的使用数量,降低了成本。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)