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1. (WO2016145582) PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE D'ÉCART DE PHASE, PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE DÉTECTION DE FORME 3D ET SYSTÈME DE PROJECTION

Pub. No.:    WO/2016/145582    International Application No.:    PCT/CN2015/074254
Publication Date: Fri Sep 23 01:59:59 CEST 2016 International Filing Date: Sat Mar 14 00:59:59 CET 2015
IPC: G01B 11/25
Applicants: HONG KONG APPLIED SCIENCE AND TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE COMPANY LIMITED
香港应用科技研究院有限公司
Inventors: WANG, Zhao
王曌
WANG, Guan
王冠
WU, Changli
吴昌力
Title: PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE D'ÉCART DE PHASE, PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE DÉTECTION DE FORME 3D ET SYSTÈME DE PROJECTION
Abstract:
L'invention concerne un procédé d'étalonnage d'écart de phase, un procédé de détection de forme 3D, et un système de projection pour détecter une forme 3D. Le procédé de détection de forme 3D consiste à : projeter une lumière structurée présentant un motif dans au moins deux directions différentes vers une cible (405) et acquérir le motif de la lumière structurée, et calculer une valeur d'enroulement de phase ; analyser le motif de la lumière structurée, et obtenir une position de pixel ayant une valeur d'enroulement de phase non valide par rapport à une valeur de gris du motif de la lumière structurée ; effectuer un traitement d'étalonnage permettant de compenser un écart de phase ; et combiner une valeur d'enroulement de phase valide et la valeur d'enroulement de phase non valide compensée le long d'une première direction au niveau d'un pixel requis dans un groupe de valeurs d'enroulement de phases combinées pour calculer une valeur de profondeur au niveau du pixel requis d'un objet (405). Dans le procédé, un calcul rapide peut être effectué pour obtenir de manière précise des données de forme 3D de l'objet (405).