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1. (WO2016145582) PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE D'ÉCART DE PHASE, PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE DÉTECTION DE FORME 3D ET SYSTÈME DE PROJECTION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/145582    N° de la demande internationale :    PCT/CN2015/074254
Date de publication : 22.09.2016 Date de dépôt international : 13.03.2015
CIB :
G01B 11/25 (2006.01)
Déposants : HONG KONG APPLIED SCIENCE AND TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE COMPANY LIMITED [CN/CN]; 3/F, Building 6, 2 Science Park West Avenue, Hong Kong Science Park Shatin, N.T. Hong Kong (CN)
Inventeurs : WANG, Zhao; (CN).
WANG, Guan; (CN).
WU, Changli; (CN)
Mandataire : CHINA TRUER IP; 10A3, Jiangxi Shiji Haoting Building (Jiangxi Building), Shennan Road South, Chegong Miao, Futian District Shenzhen, Guangdong 518040 (CN)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) PHASE DEVIATION CALIBRATION METHOD, 3D SHAPE DETECTION METHOD AND SYSTEM, AND PROJECTION SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE D'ÉCART DE PHASE, PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE DÉTECTION DE FORME 3D ET SYSTÈME DE PROJECTION
(ZH) 相位偏移校准方法、3D形状检测的方法、系统及投影系统
Abrégé : front page image
(EN)A phase deviation calibration method, a 3D shape detection method, and a projection system for detecting a 3D shape. The 3D shape detection method comprises: projecting structured light having a pattern in at least two different directions to a target (405) and acquiring the pattern of the structured light, and calculating a phase wrapping value; analysing the pattern of the structured light, and obtaining a pixel position having an invalid phase wrapping value with regard to a grey value of the pattern of the structured light; performing calibration processing to compensate for phase deviation; and combining a valid phase wrapping value and the compensated invalid phase wrapping value along a first direction at a required pixel into a group of combined phase wrapping values to calculate a depth value at the required pixel of an object (405). In the method, rapid calculation can be performed to precisely obtain 3D shape data of the object (405).
(FR)L'invention concerne un procédé d'étalonnage d'écart de phase, un procédé de détection de forme 3D, et un système de projection pour détecter une forme 3D. Le procédé de détection de forme 3D consiste à : projeter une lumière structurée présentant un motif dans au moins deux directions différentes vers une cible (405) et acquérir le motif de la lumière structurée, et calculer une valeur d'enroulement de phase ; analyser le motif de la lumière structurée, et obtenir une position de pixel ayant une valeur d'enroulement de phase non valide par rapport à une valeur de gris du motif de la lumière structurée ; effectuer un traitement d'étalonnage permettant de compenser un écart de phase ; et combiner une valeur d'enroulement de phase valide et la valeur d'enroulement de phase non valide compensée le long d'une première direction au niveau d'un pixel requis dans un groupe de valeurs d'enroulement de phases combinées pour calculer une valeur de profondeur au niveau du pixel requis d'un objet (405). Dans le procédé, un calcul rapide peut être effectué pour obtenir de manière précise des données de forme 3D de l'objet (405).
(ZH)一种相位偏移校准方法、3D形状检测的方法和检测3D形状的投影系统。3D形状检测的方法包括:将至少两个不同方向的具有图案的结构光投射到目标(405)上并获取结构光图案,并计算相位包裹值;对结构光图案进行分析,针对结构光图案的灰度值得到具有无效相位包裹值的像素位置;进行校准处理,以补偿相位偏移;将所需像素处沿第一方向的有效相位包裹值和经补偿的无效相位包裹值合并成一组合并的相位包裹值,以计算目标(405)处的所需像素处的深度值。该方法能快速地计算以精确地获得目标(405)的3D形状数据。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)