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1. (WO2016142552) PROCÉDÉ DE CONTRÔLE DE LA QUALITÉ POUR L'AJUSTEMENT DU FONCTIONNEMENT D'UN APPAREIL ÉLECTROMÉCANIQUE, PAR EXEMPLE UN APPAREIL DE FUSION PAR FAISCEAU D'ÉLECTRONS (EBM), AFIN D'OBTENIR DES PRODUITS TRANSFORMÉS CERTIFIÉS
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N° de publication :    WO/2016/142552    N° de la demande internationale :    PCT/EP2016/055456
Date de publication : 15.09.2016 Date de dépôt international : 14.03.2016
CIB :
B22F 3/105 (2006.01)
Déposants : LIMACORPORATE S.P.A. [IT/IT]; Via Nazionale, 52 Villanova 33038 San Daniele del Friuli (UD) (IT)
Inventeurs : PRESSACCO, Michele; (IT).
REGIS, Marco; (IT)
Mandataire : BOTTI, Mario; (IT)
Données relatives à la priorité :
MI2015A000378 (102015902337664) 12.03.2015 IT
Titre (EN) QUALITY CONTROL METHOD FOR REGULATING THE OPERATION OF AN ELECTROMECHANICAL APPARATUS, FOR EXAMPLE AN EBM APPARATUS, IN ORDER TO OBTAIN CERTIFIED PROCESSED PRODUCTS
(FR) PROCÉDÉ DE CONTRÔLE DE LA QUALITÉ POUR L'AJUSTEMENT DU FONCTIONNEMENT D'UN APPAREIL ÉLECTROMÉCANIQUE, PAR EXEMPLE UN APPAREIL DE FUSION PAR FAISCEAU D'ÉLECTRONS (EBM), AFIN D'OBTENIR DES PRODUITS TRANSFORMÉS CERTIFIÉS
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to a method for regulating the operation of an electromechanical apparatus (1), for example an EBM apparatus, in order to obtain certified processed products, wherein it is provided an initial calibration step that is intended to check the proper functioning of all the component parts of the apparatus (1) structured to ensure the complete functionality and a subsequent quality control step carried out on the obtained products by the carried out working process. The method entails the following steps: -defining a plurality of measurement parameters relating to the component parts of the apparatus; -measuring at least some of said parameters by means of sensors and/or measurement indicators related to said parameters during at least one processing phase performed by the apparatus; -performing a quality control step on the obtained products after the working process obtaining data on any deviation from the expected quality; -comparing the detected measurements of said parameters and data on any deviation from the expected quality with corresponding values of reference parameters available for that specific apparatus and for those products; -detecting any deviations in one or more of said parameters or said data with respect to the values of the reference parameters; -computing, on the basis of such differences, a total correction and regulation value; -applying said total correction and regulation value preferably to only one of said parameters prior to the subsequent process, for example to the generation energy of the electrons beam (3). Basically, the method of the present invention allows obtaining semi-finished products free from structural defects by means of a primary check of the correct functioning of the various component parts of the apparatus (calibration procedure), a secondary check of the operational effectiveness of the process itself (operational qualification procedure) and a further final check of the process stability and repeatability within a process window (performance qualification).
(FR)L'invention se rapporte à un procédé pour l'ajustement du fonctionnement d'un appareil électromécanique (1), par exemple un appareil de fusion par faisceau d'électrons (EBM), afin d'obtenir des produits transformés certifiés, comprenant une étape d'étalonnage initial qui est destinée à vérifier le bon fonctionnement de tous les éléments constitutifs de l'appareil (1) structurés pour assurer la fonctionnalité complète et une étape de contrôle de la qualité subséquente effectuée sur les produits obtenus par le processus de travail effectué. Le procédé comporte les étapes suivantes : la définition d'une pluralité de paramètres de mesure se rapportant aux éléments constitutifs de l'appareil; la mesure d'au moins certains desdits paramètres au moyen de capteurs et/ou d'indicateurs de mesure se rapportant auxdits paramètres au cours d'au moins une phase de transformation effectuée par l'appareil; la mise en œuvre d'une étape de contrôle de la qualité sur les produits obtenus après le processus de travail permettant d'obtenir des données sur un quelconque écart par rapport à la qualité attendue; la comparaison des mesures détectées desdits paramètres et des données sur un quelconque écart par rapport à la qualité attendue avec des valeurs correspondantes de paramètres de référence disponibles pour ledit appareil particulier et pour lesdits produits; la détection de quelconques écarts d'un ou plusieurs desdits paramètres ou desdites données par rapport aux valeurs des paramètres de référence; le calcul par ordinateur, sur la base de telles différences, d'une valeur de correction totale et d'ajustement; l'application de ladite valeur de correction totale et d'ajustement de préférence à un seul desdits paramètres avant le processus subséquent, par exemple à l'énergie de génération du faisceau d'électrons (3). Pour l'essentiel, le procédé selon la présente invention permet d'obtenir des produits semi-finis exempts de défauts de structure au moyen d'une vérification primaire du fonctionnement correct des divers éléments constitutifs de l'appareil (procédure d'étalonnage), d'une vérification secondaire de l'efficacité opérationnelle du processus lui-même (procédure de qualification opérationnelle) et d'une vérification finale supplémentaire de la stabilité et de la répétabilité du processus à l'intérieur d'une fenêtre de procédé (qualification de performance).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)