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N° de publication :    WO/2016/140017    N° de la demande internationale :    PCT/JP2016/053574
Date de publication : 09.09.2016 Date de dépôt international : 05.02.2016
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    28.12.2016    
G01N 35/00 (2006.01)
Déposants : HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717 (JP)
Inventeurs : NAKANO Toshirou; (JP)
Mandataire : KAICHI IP; 3-16, Nihonbashi-muromachi 4-chome, Chuo-ku, Tokyo 1030022 (JP)
Données relatives à la priorité :
2015-040429 02.03.2015 JP
(JA) 自動分析装置
Abrégé : front page image
(EN)The present invention is provided with: an analysis unit which executes analysis processing for analyzing a sample to be analyzed; a storage unit which stores, for each analysis item of the sample, the analysis processing results, cumulative information related to the occurrence of events such as registrations/changes/deletions of analysis parameters such as analysis conditions of the analysis processing, and cumulative information related to the occurrence of events such as registrations/deletions/exchanges of reagent information, i.e. information related to reagents used to analyze the sample; and a display unit which displays the sample analysis results, and information related to the state of occurrence of the events. Operation of the analysis processing of the sample by the analysis unit is controlled, and information related to the events concerning the analysis parameters and information related to the events concerning the reagent information are read from the storage unit, and displayed on the display unit in time series. Accordingly, the degree of ease of locating and the visibility of various pieces of information related to discrepancy examination in cases when some sort of discrepancy, such as a data abnormality in the sample measurement results, has occurred are improved, and, as a result, the time required to examine/analyze discrepancies can be shortened and reliability can be improved.
(FR)La présente invention est pourvue : d'une unité d'analyse qui exécute un traitement d'analyse permettant d'analyser un échantillon à analyser ; d'une unité de mémorisation qui mémorise, pour chaque élément d'analyse de l'échantillon, les résultats de traitement d'analyse, des informations cumulées relatives à la survenue d'événements tels que des enregistrements/modifications/suppressions de paramètres d'analyse comme des conditions d'analyse du traitement d'analyse, et des informations cumulées relatives à la survenue d'événements tels que des enregistrements/suppressions/échanges d'informations de réactifs, c'est-à-dire, des informations relatives à des réactifs utilisés pour analyser l'échantillon ; et d'une unité d'affichage qui affiche les résultats d'analyse d'échantillon, et des informations relatives à l'état de survenue desdits événements. La mise en œuvre du traitement d'analyse de l'échantillon au moyen de l'unité d'analyse est commandée, et des informations relatives aux événements concernant les paramètres d'analyse et des informations relatives aux événements concernant les informations de réactifs sont lues à partir de l'unité de mémorisation, et sont affichées de façon chronologique sur l'unité d'affichage. Par conséquent, l'invention permet d'améliorer le degré de facilité de localisation et la visibilité de divers éléments d'informations relatifs à un examen de divergence dans des cas où est survenu un certain type de divergence, telle qu'une anomalie de données dans les résultats de mesure d'échantillon et, par conséquent, permet de raccourcir le temps nécessaire pour examiner/analyser des divergences et d'améliorer la fiabilité.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)