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1. (WO2016139809) ANALYSEUR DE PARTICULES ET PROCÉDÉ D'ANALYSE DE PARTICULES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/139809    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/056557
Date de publication : 09.09.2016 Date de dépôt international : 05.03.2015
CIB :
G01N 15/12 (2006.01)
Déposants : HITACHI, LTD. [JP/JP]; 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280 (JP)
Inventeurs : TAKAKURA Tatsuki; (JP).
KAMAHORI Masao; (JP).
KOHARA Yoshinobu; (JP)
Mandataire : HIRAKI Yusuke; (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) PARTICLE ANALYZER AND PARTICLE ANALYSIS METHOD
(FR) ANALYSEUR DE PARTICULES ET PROCÉDÉ D'ANALYSE DE PARTICULES
(JA) 粒子分析装置及び粒子分析方法
Abrégé : front page image
(EN)In order to perform more efficient particle measurements on a sample with a dilute particle density by the resistive-pulse technique by concentrating the particles, an electrically conductive liquid is introduced to a container having a first compartment 101 and a second compartment 102 connected by a pore 103; a sample liquid that includes charged particles 104 that are the object of detection is introduced to the first compartment; the charged particles are concentrated within the first compartment by applying to the first compartment an electrophoretic force directed toward the pore; the charged particles are made to pass through the pore by applying an electrophoretic force directed from the first compartment toward the second compartment via the pore; and by measuring changes in the current flowing through the pore or changes in the electrical resistance across the pore, the charged particles passing through the pore are measured.
(FR)Selon l'invention, afin d'effectuer des mesures des particule de manière plus efficace sur un échantillon ayant une densité particulaire diluée par la technique impulsionnelle à effet résistif par concentration des particules, un liquide électriquement conducteur est introduit dans un récipient ayant un premier compartiment (101) et un second compartiment (102) reliés par un pore (103) ; un échantillon liquide qui comprend des particules chargées (104) qui sont l'objet de la détection est introduit dans le premier compartiment ; les particules chargées sont concentrées à l'intérieur du premier compartiment par application sur le premier compartiment d'une force électrophorétique dirigée vers le pore ; les particules chargées sont amenées à passer à travers le pore par l'application d'une force électrophorétique dirigée du premier compartiment vers le second compartiment par l'intermédiaire du pore ; et par mesure des changements dans le courant circulant à travers le pore ou des changements dans la résistance électrique à travers le pore, les particules chargées passant à travers le pore sont mesurées.
(JA) 粒子密度が希薄な試料に対して、粒子を濃縮することでより効率的に抵抗パルス法で粒子測定を行うために、細孔103によって接続された第1の区画101と第2の区画102を有する容器に導電性液体を導入し、第1の区画に検出対象となる荷電粒子104を含む試料液体を導入し、第1の区画に細孔に向かう向きの電気泳動力を作用させて荷電粒子を第1の区画内で濃縮し、第1の区画から細孔を介して第2の区画に向かう向きの電気泳動力を作用させて荷電粒子を細孔に通過させ、細孔を流れる電流の変化あるいは細孔をまたぐ電気抵抗の変化を測定して細孔を通過する荷電粒子を計測する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)