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1. (WO2016139284) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF D'ÉTALONNAGE AU SOL D'UN INSTRUMENT OPTIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/139284    N° de la demande internationale :    PCT/EP2016/054491
Date de publication : 09.09.2016 Date de dépôt international : 03.03.2016
CIB :
G01M 11/02 (2006.01)
Déposants : CENTRE NATIONAL D'ETUDES SPATIALES [FR/FR]; 2, place Maurice Quentin 75001 Paris (FR)
Inventeurs : FOUREST, Sébastien; (FR)
Mandataire : REGIMBEAU; 20, rue de Chazelles 75847 Paris Cedex 17 (FR)
Données relatives à la priorité :
1551804 04.03.2015 FR
Titre (EN) METHOD AND DEVICE FOR THE GROUND CALIBRATION OF AN OPTICAL INSTRUMENT
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF D'ÉTALONNAGE AU SOL D'UN INSTRUMENT OPTIQUE
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to a method for calibrating an optical instrument (1) comprising at least one optical detector (2), characterised in that it comprises the steps consisting in: recording (E1), using said optical instrument (1), a plurality of images of a target (3) comprising at least two holes (41, 42), the Fourier transforms of which are Airy disks that are not cancelled out at the same frequency over a range of given frequencies; and deducing (E4) therefrom the optical modulation transfer function of the optical instrument over said range of frequencies. The invention also relates to a calibration target (3) and to a calibration assembly.
(FR)L'invention concerne un procédé d'étalonnage d'un instrument (1) optique comprenant un ou plusieurs détecteurs (2) optiques, caractérisé en ce qu'il comprend les étapes consistant à : - prendre (E1), avec ledit instrument (1) optique, une pluralité d'images d'une mire (3) comprenant au moins deux trous (41, 42) dont les transformées de Fourier sont des taches d'Airy qui ne s'annulent pas à la même fréquence sur une plage de fréquences données, - en déduire (E4) la fonction de transfert de modulation optique de l'instrument (1) optique sur ladite plage de fréquences. L'invention concerne également une mire (3) d'étalonnage et un ensemble d'étalonnage.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : français (FR)
Langue de dépôt : français (FR)