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1. (WO2016138529) LOCALISATION, MAPPAGE ET DE RETOUR HAPTIQUE POUR L'INSPECTION D'UN ESPACE CONFINÉ DANS UNE MACHINE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/138529    N° de la demande internationale :    PCT/US2016/020108
Date de publication : 01.09.2016 Date de dépôt international : 29.02.2016
CIB :
G01R 31/34 (2006.01), B62D 55/02 (2006.01), B62D 55/065 (2006.01)
Déposants : ABB TECHNOLOGY AG [CH/CH]; Affolternstrasse 44 CH-8050 Zurich (CH).
ROSSANO, Gregory, F. [US/US]; (US)
Inventeurs : ROSSANO, Gregory, F.; (US).
CHOI, Sangeun; (US).
ZHANG, George, Q.; (US).
FUHLBRIGGE, Thomas, A.; (US).
LAKHANI, Hetal, V.; (US).
HTAIK, Than; (US).
PENZA, Gregory; (US).
KODADEK, Robert; (US).
EAKINS, William, John; (US)
Mandataire : ALLIE, John, A.; (US)
Données relatives à la priorité :
62/121,536 27.02.2015 US
Titre (EN) LOCALIZATION, MAPPING AND HAPTIC FEEDBACK FOR INSPECTION OF A CONFINED SPACE IN MACHINERY
(FR) LOCALISATION, MAPPAGE ET DE RETOUR HAPTIQUE POUR L'INSPECTION D'UN ESPACE CONFINÉ DANS UNE MACHINE
Abrégé : front page image
(EN)A modular crawler device is used to inspect a confined space in a machine. The inspection coverage area and corresponding status can be mapped so that the inspection location and associated data are graphically visualized. One or more sensors are coupled with the crawler so as to provide positional data and information regarding defects within the confined space. The sensed information is used to generate an inspection map that provides inspection history, logged data and a reference that are useful in scheduling the next inspection. The output of the sensors can also be used to provide haptic feedback to an operator.
(FR)L'invention concerne un dispositif à chenilles modulaire utilisé pour inspecter un espace confiné dans une machine. La zone de couverture d'inspection et l'état correspondant peuvent être cartographiés de telle sorte que l'emplacement d'inspection et des données associées soient visualisés graphiquement. Un ou plusieurs capteurs sont couplés avec le dispositif à chenille de manière à fournir des données de position et des informations concernant les défauts à l'intérieur de l'espace confiné. Les informations captées sont utilisées pour générer une carte d'inspection qui fournit un historique d'inspection , des données d'accès, et une référence qui sont utiles dans la planification de l'inspection suivante. La sortie des capteurs peut également être utilisée pour fournir un retour haptique à un opérateur.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)