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1. (WO2016137862) COMPOSITIONS DE RÉSISTANCE AU CHEMINEMENT ÉLECTRIQUE, ARTICLES FORMÉS À PARTIR DE CES DERNIÈRES ET LEURS PROCÉDÉS DE PRODUCTION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/137862    N° de la demande internationale :    PCT/US2016/018870
Date de publication : 01.09.2016 Date de dépôt international : 22.02.2016
CIB :
C08L 67/02 (2006.01), C08L 77/06 (2006.01)
Déposants : SABIC GLOBAL TECHNOLOGIES B.V. [NL/NL]; Plasticslaan 1 4612 PX Bergen op Zoom (NL).
SHETH, Kapil Chandrakant [US/US]; (US) (BZ only)
Inventeurs : SHETH, Kapil Chandrakant; (US).
RAMALINGAM, Hariharan; (IN).
MEDIRATTA, Gaurav; (IN)
Mandataire : WU, Wanli; (US)
Données relatives à la priorité :
62/119,487 23.02.2015 US
Titre (EN) ELECTRICAL TRACKING RESISTANCE COMPOSITIONS, ARTICLES FORMED THEREFROM, AND METHODS OF MANUFACTURE THEREOF
(FR) COMPOSITIONS DE RÉSISTANCE AU CHEMINEMENT ÉLECTRIQUE, ARTICLES FORMÉS À PARTIR DE CES DERNIÈRES ET LEURS PROCÉDÉS DE PRODUCTION
Abrégé : front page image
(EN)A composition comprises, based on the total weight of the composition, 25 wt% to 50 wt% of a polyetherimide; and 50 wt% to 75 wt% of a polyphthalamide; wherein the composition has a number of drops to tracking at 250 volts of greater than or equal to 50 drops determined according to ASTM D-3638-85.
(FR)Une composition comprend, sur la base du poids total de la composition, 25 % en poids à 50 % en poids d'un polyétherimide; et 50 % en poids à 75 % en poids d'un polyphtalamide; la composition présentant un certain nombre de gouttes pour un cheminement à 250 volts supérieur ou égal à 50 gouttes déterminé selon la Norme ASTM D-3638-85.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)