US2016014687 CIRCUIT DE COMPENSATION DE FUITE POUR DES CONDENSATEURS D'OXYDE MINCE DE GRANDE TAILLE À BOUCLE À VERROUILLAGE DE PHASE (PLL)

1. (WO2016137622) CIRCUIT DE COMPENSATION DE FUITE POUR DES CONDENSATEURS D'OXYDE MINCE DE GRANDE TAILLE À BOUCLE À VERROUILLAGE DE PHASE (PLL)

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N° de publication :		WO/2016/137622		N° de la demande internationale :		PCT/US2016/014687
Date de publication :		01.09.2016		Date de dépôt international :		25.01.2016

CIB :

H03L 7/089 (2006.01)

Déposants :

QUALCOMM INCORPORATED [US/US]; ATTN: International IP Administration 5775 Morehouse Drive San Diego, California 92121-1714 (US)

Inventeurs :

VAHID FAR, Mohammad Bagher; (US).
BICAKCI, Ara; (US).
KHALILI, Alireza; (US).
BORNA, Ashkan; (US).
NGUYEN, Thinh Cat; (US)

Mandataire :

ROBERTS, Steven E.; (US)

Données relatives à la priorité :

62/121,588		27.02.2015		US
14/743,360		18.06.2015		US

Titre

(EN) LEAKAGE COMPENSATION CIRCUIT FOR PHASE-LOCKED LOOP (PLL) LARGE THIN OXIDE CAPACITORS
(FR) CIRCUIT DE COMPENSATION DE FUITE POUR DES CONDENSATEURS D'OXYDE MINCE DE GRANDE TAILLE À BOUCLE À VERROUILLAGE DE PHASE (PLL)

Abrégé :

(EN)Certain aspects of the present disclosure provide methods and apparatus for compensating, or at least adjusting, for capacitor leakage. One example method generally includes determining a leakage voltage corresponding to a leakage current of a capacitor in a filter for a phase-locked loop (PLL), wherein the determining comprises closing a set of switches for discontinuous sampling of the leakage voltage; based on the sampled leakage voltage, generating a sourced current approximately equal to the leakage current; and injecting the sourced current into the capacitor.
(FR)Certains aspects de la présente invention concernent des procédés et un appareil pour compenser, ou au moins régler, une fuite de condensateur. Un procédé donné à titre d'exemple consiste généralement à déterminer une tension de fuite correspondant à un courant de fuite d'un condensateur dans un filtre pour une boucle à verrouillage de phase (PLL), la détermination consistant à fermer un jeu de commutateurs pour l'échantillonnage discontinu de la tension de fuite ; sur la base de la tension de fuite échantillonnée, générer un courant sourcé approximativement égal au courant de fuite ; et injecter le courant sourcé dans le condensateur.

États désignés :

AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).

Langue de publication :	anglais (EN)
Langue de dépôt :	anglais (EN)

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