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1. (WO2016136816) PROCÉDÉ ET APPAREIL DE CORRECTION DE POSITION DE POINT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/136816    N° de la demande internationale :    PCT/JP2016/055455
Date de publication : 01.09.2016 Date de dépôt international : 24.02.2016
CIB :
B23K 11/11 (2006.01), B23K 11/24 (2006.01)
Déposants : HONDA MOTOR CO., LTD. [JP/JP]; 1-1, Minami-Aoyama 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1078556 (JP)
Inventeurs : YOSHINO Tetsuya; (JP)
Mandataire : CHIBA Yoshihiro; (JP)
Données relatives à la priorité :
2015-035027 25.02.2015 JP
Titre (EN) SPOT POSITION CORRECTING METHOD AND APPARATUS
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL DE CORRECTION DE POSITION DE POINT
(JA) 打点位置補正方法及び装置
Abrégé : front page image
(EN)According to the present invention, a plurality of actual spots (P1 to P5, Pn) where normal directions (N1, N2) of welding surfaces (S1, S2) are parallel to each other and arranged successively, are set as a spot group (G1, G2, Gm). Then, when the actual spots (P1 to P5, Pn) included in the spot group (G1, G2, Gm) are collectively moved in the same direction by the same distance (V10, V11, V20, V30, Vn), a search is conducted of candidates for the directions and the distances (V10, V11, V20, V30, Vn) that cause the actual spots (P1 to P5, Pn) having been moved to approach welding points (Q1 to Q3, Qn). Further, optimum direction and distance (V10, V11, V20, V30, Vn) are selected from among the candidates for the directions and distances (V10, V11, V20, V30, Vn), and a plurality of teaching points corresponding to the plurality of actual spots (P1 to P5, Pn) included in the spot group (G1, G2, Gm) are corrected by using the selected direction and distance (V10, V11, V20, V30, Vn).
(FR)Selon la présente invention, une pluralité de points réels (P1 à P5, Pn), où des directions normales (N1, N2) de surfaces de soudage (S1, S2) sont parallèles l'une à l'autre et agencées successivement, sont définis comme un groupe de points (G1, G2, Gm). Ensuite, lorsque les points réels (P1 à P5, Pn) compris dans le groupe de points (G1, G2, Gm) sont déplacés collectivement dans la même direction de la même distance (V10, V11, V20, V30, Vn), une recherche de candidats pour les directions et les distances (V10, V11, V20, V30, Vn) qui amènent les points réels (P1 à P5, Pn) ayant été déplacés à s'approcher des points de soudage (Q1 à Q3, Qn), est réalisée. En outre, la direction et la distance optimales (V10, V11, V20, V30, Vn) sont choisies parmi les candidats pour les directions et les distances (V10, V11, V20, V30, Vn), et une pluralité de points d'apprentissage correspondant à la pluralité de points réels (P1 à P5, Pn) compris dans le groupe de points (G1, G2, Gm) sont corrigés par utilisation de la direction et de la distance sélectionnées (V10, V11, V20, V30, Vn).
(JA) 溶接面(S1、S2)の法線方向(N1、N2)が互いに平行し且つ連続して配列される複数の実打点(P1~P5、Pn)を1つの打点群(G1、G2、Gm)として設定する。そして、その打点群(G1、G2、Gm)に含まれる複数の実打点(P1~P5、Pn)をまとめて同一の方向に同一の距離(V10、V11、V20、V30、Vn)だけ移動させた場合に、移動後の各実打点(P1~P5、Pn)が各溶接打点(Q1~Q3、Qn)に近づくような方向及び距離(V10、V11、V20、V30、Vn)の候補を探索する。更に、複数の方向及び距離(V10、V11、V20、V30、Vn)の候補の中から最適な方向及び距離(V10、V11、V20、V30、Vn)を選択し、その方向及び距離(V10、V11、V20、V30、Vn)を用いて、打点群(G1、G2、Gm)に含まれる複数の実打点(P1~P5、Pn)に対応する複数の教示点を補正する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)