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1. (WO2016136788) PROCÉDÉ DE DIAGNOSTIC DE DÉTÉRIORATION DE CELLULE ET DISPOSITIF DE DIAGNOSTIC DE DÉTÉRIORATION DE CELLULE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/136788    N° de la demande internationale :    PCT/JP2016/055374
Date de publication : 01.09.2016 Date de dépôt international : 24.02.2016
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    29.06.2016    
CIB :
G01R 31/36 (2006.01), H01M 10/42 (2006.01), H01M 10/48 (2006.01), H02J 7/00 (2006.01)
Déposants : THE DOSHISHA [JP/JP]; 601, Gembu-cho, Karasuma-higashi-iru, Imadegawa-dori, Kamigyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6028580 (JP)
Inventeurs : NAGAOKA, Naoto; (JP).
YOSHIOKA, Naoyuki; (JP).
NARITA, Naoya; (JP)
Mandataire : MINORI PATENT PROFESSION CORPORATION; Chiyoda Seimei Kyoto Oike Bldg. 8F, 200, Takamiya-cho, Oike-dori Takakura Nishi-iru, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6040835 (JP)
Données relatives à la priorité :
2015-033944 24.02.2015 JP
Titre (EN) CELL DETERIORATION DIAGNOSTIC METHOD AND CELL DETERIORATION DIAGNOSTIC DEVICE
(FR) PROCÉDÉ DE DIAGNOSTIC DE DÉTÉRIORATION DE CELLULE ET DISPOSITIF DE DIAGNOSTIC DE DÉTÉRIORATION DE CELLULE
(JA) 電池劣化診断方法および電池劣化診断装置
Abrégé : front page image
(EN)Provided are a cell deterioration diagnostic method and a cell deterioration diagnostic device which are relatively inexpensive and practical. The cell deterioration diagnostic method for diagnosing the cell deterioration of a secondary cell having transient properties is characterized by including: a charging step for charging a secondary cell; a computation step for integrating a potential difference obtained by subtracting the cell internal voltage V0 from the cell inter-terminal voltage during a process in which the cell inter-terminal voltage of the secondary cell converges on the cell internal voltage V0 of the secondary cell after completion of charging, and calculating the integral value of the potential difference; and a diagnosis step for diagnosing the cell deterioration of the secondary cell on the basis of the integral value.
(FR)L'invention concerne un procédé de diagnostic de détérioration de cellule et un dispositif de diagnostic de détérioration de cellule qui sont relativement bon marché et pratiques. Le procédé de diagnostic de détérioration de cellule pour diagnostiquer la détérioration de cellule d'un élément secondaire ayant des propriétés transitoires est caractérisé en ce qu'il comprend : une étape de charge pour charger un élément secondaire; une étape de calcul pour intégrer une différence de potentiel obtenue par soustraction de la tension interne de la cellule V0 à partir de la tension inter-bornes de la cellule au cours d'un processus dans lequel la tension inter-bornes de cellule de l'élément secondaire converge sur la tension interne de cellule V0 de l'élément secondaire après l'achèvement de la charge, et pour calculer la valeur intégrale de la différence de potentiel; et une étape de diagnostic pour diagnostiquer la détérioration de cellule de l'élément secondaire sur la base de la valeur intégrale.
(JA)比較的安価で実用性のある電池劣化診断方法および電池劣化診断装置を提供する。 過渡特性を有する二次電池の電池劣化を診断する電池劣化診断方法であって、二次電池に対して充電を行う充電ステップと、充電の終了後、二次電池の電池端子間電圧が二次電池の電池内部電圧Vに収束する過程において、電池端子間電圧から電池内部電圧Vを差し引いた電位差を積分し、電位差の積分値を算出する演算ステップと、積分値に基づいて二次電池の電池劣化を診断する診断ステップと、を含むことを特徴とする。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)