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1. (WO2016136444) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'ADAPTATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2016/136444 N° de la demande internationale : PCT/JP2016/053676
Date de publication : 01.09.2016 Date de dépôt international : 08.02.2016
CIB :
H03H 7/40 (2006.01) ,H03H 11/30 (2006.01) ,H05H 1/46 (2006.01)
Déposants : HITACHI KOKUSAI ELECTRIC INC.[JP/JP]; 15-12, Nishi-shimbashi 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1058039, JP
Inventeurs : FUJIMOTO, Naoya; JP
OSHIDA, Yoshiyuki; JP
KATO, Norikazu; JP
Données relatives à la priorité :
2015-03853127.02.2015JP
Titre (EN) MATCHING DEVICE AND MATCHING METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'ADAPTATION
(JA) 整合器及び整合方法
Abrégé : front page image
(EN) The purpose of the present invention is to provide a matching algorithm that converges to a matching point even in any load impedance. A matching device is provided with: a directional coupler that detects a traveling wave and a reflected wave; a matching circuit that has a first variable capacitance capacitor, a second variable capacitance capacitor and an inductance; and a control unit that calculates a reflection coefficient on the basis of the traveling wave and the reflected wave and controls a capacitance value VC1 of the first variable capacitance capacitor and a capacitance value VC2 of the second variable capacitance capacitor. The control unit changes VC2 such that VC2 goes to a circle drawn by the trajectory of the reflection coefficient passing through a matching point on a Smith chart, fine-tunes VC1 on the basis of an expected intersection point with the circle, and when the distance between the calculated reflection coefficient and the circle becomes a predetermined value or less, changes VC1 such that the calculated reflection coefficient approaches zero, and fine-tunes VC2.
(FR) L'objet de la présente invention est de fournir un algorithme d'adaptation qui converge vers un point d'adaptation même dans une quelconque impédance de charge. Selon l'invention, un dispositif d'adaptation comprend : un coupleur directionnel qui détecte une onde progressive et une onde réfléchie; un circuit d'adaptation qui comporte un premier condensateur à capacité variable, un second condensateur à capacité variable et une inductance; et une unité de commande qui calcule un coefficient de réflexion sur la base de l'onde progressive et de l'onde réfléchie et qui commande une valeur de capacité VC1 du premier condensateur à capacité variable et une valeur de capacité VC2 du second condensateur à capacité variable. L'unité de commande modifie VC2 de telle sorte que VC2 devienne un cercle tracé par la trajectoire du coefficient de réflexion passant à travers un point d'adaptation sur un diagramme de Smith, accorde finement VC1 sur la base d'un point d'intersection attendu avec le cercle, et lorsque la distance entre le coefficient de réflexion calculé et le cercle devient inférieur ou égal à une valeur prédéfinie, modifie VC1 de telle sorte que le coefficient de réflexion calculé s'approche de zéro, et accorde finement VC2.
(JA) どのような負荷インピーダンスにおいても整合点に収束する整合アルゴリズムを提供する。整合器は、進行波と反射波とを検出する方向性結合器と、第1の可変容量コンデンサと第2の可変容量コンデンサとインダクタンスとを有する整合回路と、進行波と反射波とに基づき反射係数を算出し第1の可変容量コンデンサの容量値VC1と第2の可変容量コンデンサの容量値VC2とを制御する制御部と、を備える。制御部は、スミスチャート上で整合点を通過する反射係数の軌跡が描く円に向かうようにVC2を変更し、予想した円との交点に基づいてVC1を微調し、算出された反射係数と円との間の距離が所定値以内になると、算出される反射係数をゼロに近づけるようにVC1を変更すると共にし、VC2を微調する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)