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1. (WO2016135856) SYSTÈME DE MESURE DE FORME TRIDIMENSIONNELLE ET PROCÉDÉ DE MESURE DE CETTE DERNIÈRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/135856    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/055239
Date de publication : 01.09.2016 Date de dépôt international : 24.02.2015
CIB :
G01B 11/00 (2006.01), G01C 3/06 (2006.01)
Déposants : HITACHI, LTD. [JP/JP]; 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280 (JP)
Inventeurs : FUJIMOTO Keisuke; (JP).
WATANABE Takashi; (JP)
Mandataire : ISONO INTERNATIONAL PATENT OFFICE, P.C.; Hulic Toranomon Building, 1-18, Toranomon 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1050001 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) THREE-DIMENSIONAL SHAPE MEASUREMENT SYSTEM AND MEASUREMENT METHOD FOR SAME
(FR) SYSTÈME DE MESURE DE FORME TRIDIMENSIONNELLE ET PROCÉDÉ DE MESURE DE CETTE DERNIÈRE
(JA) 3次元形状計測システムおよびその計測方法
Abrégé : front page image
(EN)To provide a three-dimensional shape measurement system and measurement method capable of shape measurement of the entirety of an object of measurement when only a portion of the shape of the object of measurement can be obtained using distance measurement, a three-dimensional shape measurement system according to the present invention is provided with a distance measurement unit (100) for measuring the distance to a plurality of points on an object of measurement, an imaging unit (101) for acquiring image data by imaging a measurement space including the object of measurement, and a shape reconstruction device (21) for determining a plurality of image data feature points corresponding to each of a plurality image data items imaged from different directions by the imaging unit, determining a provisional relative posture and provisional shape of unknown scale from position information for the image data of the plurality of feature points, and reconstructing the shape of the object of measurement by calculating the three-dimensional coordinates of the provisional relative posture and provisional shape of unknown scale on the basis of the distances to the feature points measured by the distance measurement unit.
(FR)Afin de fournir un système de mesure de forme tridimensionnelle et un procédé de mesure aptes à mesurer la forme de la totalité d'un objet de mesure lorsque seulement une partie de la forme de l'objet de mesure peut être obtenue à l'aide d'une mesure de distance, un système de mesure de forme tridimensionnelle selon la présente invention comprend une unité de mesure de distance (100) pour mesurer la distance à une pluralité de points sur un objet de mesure, une unité d'imagerie (101) pour acquérir des données d'image par imagerie d'un espace de mesure comprenant l'objet de mesure, et un dispositif de reconstruction de forme (21) pour déterminer une pluralité de points caractéristiques de données d'image correspondant à chacun d'une pluralité d'éléments de données d'image imagés depuis différentes directions par l'unité d'imagerie, déterminer une posture relative provisoire et une forme provisoire d'échelle inconnue à partir d'informations de position pour les données d'image de la pluralité de points caractéristiques, et reconstruire la forme de l'objet de mesure par calcul des coordonnées tridimensionnelles de la posture relative provisoire et de la forme provisoire d'échelle inconnue sur la base des distances aux points caractéristiques mesurées par l'unité de mesure de distance.
(JA) 距離計測で測定対象の一部の形状しか得られない場合、測定対象全体の形状計測を行うことができる3次元形状計測システムおよび計測方法を提供する。このために、本発明の3次元形状計測システムは、測定対象物の複数の点までの距離を測定する距離計測部(100)と、前記測定対象物を含む測定空間を撮像して画像データを取得する撮像部(101)と、前記撮像部により異なる方向から撮像した複数の画像データのそれぞれに対応する画像データの特徴点を複数点求め、前記複数点の特徴点の画像データにおける位置情報から、スケール未知の仮相対姿勢および仮形状を求め、前記距離計測部により計測した前記特徴点までの距離に基づいて、前記スケール未知の仮相対姿勢および仮形状の3次元座標値を算出して測定対象物の形状を復元する形状復元装置(21)と、を備えるようにした。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)