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1. (WO2016118975) SYSTÈMES D'IMAGERIE DE LUMINESCENCE ET PROCÉDÉS POUR ÉVALUER DES DISPOSITIFS PHOTOVOLTAÏQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/118975    N° de la demande internationale :    PCT/US2016/015130
Date de publication : 28.07.2016 Date de dépôt international : 27.01.2016
CIB :
H02S 50/15 (2014.01), G01N 21/63 (2006.01), G01N 21/88 (2006.01)
Déposants : ALLIANCE FOR SUSTAINABLE ENERGY, LLC [US/US]; 15013 Denver West Parkway Golden, Colorado 80401 (US)
Inventeurs : JOHNSTON, Steven; (US)
Données relatives à la priorité :
62/107,328 23.01.2015 US
15/002,628 21.01.2016 US
Titre (EN) LUMINESCENCE IMAGING SYSTEMS AND METHODS FOR EVALUATING PHOTOVOLTAIC DEVICES
(FR) SYSTÈMES D'IMAGERIE DE LUMINESCENCE ET PROCÉDÉS POUR ÉVALUER DES DISPOSITIFS PHOTOVOLTAÏQUES
Abrégé : front page image
(EN)The present disclosure relates to optical methods and systems for detecting defects in photovoltaic (PV) devices such as PV cells, PV panels, PV modules, and PV arrays. These methods include may include illuminating a first portion of the surface such that the illumination causes formation of a voltage within the device and the voltage induces luminescence in a second portion of the surface that is different from the first portion, and the first and second portions do not substantially overlap. The methods also include detecting the luminescence in the second portion of the surface, and from the detecting, determining the presence or absence of one or more defects in the second portion of the surface.
(FR)La présente invention concerne des procédés et des systèmes optiques destinés à détecter des défauts dans des dispositifs photovoltaïques (PV) tels que des cellules PV, des panneaux PV, des modules PV et des matrices PV. Ces procédés peuvent inclure l'éclairage d'une première portion de la surface de telle sorte que l'éclairage provoque la formation d'une tension à l'intérieur du dispositif et la tension induit de la luminescence dans une deuxième portion de la surface qui est différente de la première portion, et les première et deuxième portions ne se chevauchent sensiblement pas. Les procédés comprennent également la détection de la luminescence dans la deuxième portion de la surface et, à partir de la détection, la détermination de la présence ou de l'absence d'un ou de plusieurs défauts dans la deuxième portion de la surface.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)