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1. (WO2016117530) ANALYSEUR OPTIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/117530    N° de la demande internationale :    PCT/JP2016/051366
Date de publication : 28.07.2016 Date de dépôt international : 19.01.2016
CIB :
G01N 21/359 (2014.01)
Déposants : TOPCON CORPORATION [JP/JP]; 75-1, Hasunuma-cho, Itabashi-ku, Tokyo 1748580 (JP)
Inventeurs : YUASA, Taichi; (JP)
Mandataire : SUENARI, Mikio; (JP)
Données relatives à la priorité :
2015-010131 22.01.2015 JP
Titre (EN) OPTICAL ANALYZER
(FR) ANALYSEUR OPTIQUE
(JA) 光学分析装置
Abrégé : front page image
(EN)An optical analyzer with which high wavelength resolution is obtained using a simple optical system is obtained. The device comprises: a halogen lamp 101 as a light source; an illuminating system lens 104 constituting an illuminating optical system for illuminating an object being measured, with light from the halogen lamp 101; a mirror 106 which is an optical member having a positional relationship that is coaxial to the illuminating system lens 104, for guiding detection light from between the halogen lamp 101 and the object being measured to an analysis section 109; and a spectroscope 109 as the analysis section for analyzing a material which is the object being measured, on the basis of light received via the mirror 106. At the location of the mirror 106, light traveling from the halogen lamp 101 towards the object being measured passes through the periphery on the optical axis of the illuminating system lens 104, and the light received by the spectroscope 109 passes through the center portion on the optical axis of the illuminating system lens 104.
(FR)L'invention concerne un analyseur optique avec lequel une haute résolution de longueur d'onde est obtenue à l'aide d'un système optique simple. Le dispositif comprend : une lampe à halogène (101) en tant que source de lumière; une lentille de système d'éclairage (104) constituant un système optique d'éclairage pour éclairer un objet qui est mesuré, avec de la lumière provenant de la lampe à halogène (101); un miroir (106) qui est un élément optique ayant une relation de position qui est coaxiale à la lentille de système d'éclairage (104), pour guider une lumière de détection à partir d'un endroit situé entre la lampe à halogène (101) et l'objet qui est mesuré, jusqu'à une section d'analyse (109); et un spectroscope (109) en tant que section d'analyse pour analyser un matériau qui constitue l'objet qui est mesuré, sur la base de la lumière reçue par le biais du miroir (106). À l'endroit du miroir (106), une lumière se propageant depuis la lampe à halogène (101) vers l'objet qui est mesuré, passe à travers la périphérie sur l'axe optique de la lentille de système d'éclairage (104) et la lumière reçue par le spectroscope (109) passe à travers la partie centrale sur l'axe optique de la lentille de système d'éclairage (104).
(JA)シンプルな光学系を用い、高い波長分解能が得られる光学分析装置を得る。 光源であるハロゲンランプ101、ハロゲンランプ101からの光を測定対象物に照射する照射光学系を構成する照射系レンズ104、照射系レンズ104と同軸な位置関係にあり、ハロゲンランプ101と測定対象物の間から検出光を分析部109に導く光学部材であるミラー106、ミラー106を介して受光する光に基づいて測定対象物を構成する材料を分析する分析部である分光器109を備え、ミラー106の位置において、ハロゲンランプ101から測定対象物に向かう光は照射系レンズ104の光軸上の周辺部を通り、分光器109で受光する光は照射系レンズ104の光軸上の中心部を通る。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)