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1. (WO2016117066) SPECTROMÈTRE DE MASSE ET DISPOSITIF D'ANALYSE DE MOBILITÉ IONIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/117066    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/051622
Date de publication : 28.07.2016 Date de dépôt international : 22.01.2015
CIB :
H01J 49/10 (2006.01), G01N 27/62 (2006.01)
Déposants : SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511 (JP)
Inventeurs : NISHIGUCHI, Masaru; (JP)
Mandataire : KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE; Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si, Kyoto 6008091 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) MASS SPECTROMETER AND ION MOBILITY ANALYSIS DEVICE
(FR) SPECTROMÈTRE DE MASSE ET DISPOSITIF D'ANALYSE DE MOBILITÉ IONIQUE
(JA) 質量分析装置及びイオン移動度分析装置
Abrégé : front page image
(EN)A reflective electrode (7) having the same cylindrical shape as a cylindrical auxiliary electrode 6: is arranged to the front of a mist flow sprayed from an ESI ionization probe (5); and causes an inlet end (8a) of a heating capillary (8) to extend to a space between both electrodes (6, 7). The auxiliary electrode (6) and the heating capillary (8) are used as ground potential and apply a DC voltage having the same polarity as measurement-target ions to the reflective electrode (7). As a result, a reflective electric field that reflects sample component-derived ions and charged droplets that have advanced riding on the mist flow is formed in the space between both electrodes (6, 7) and a convergent electric field that converges ions to the inlet end (8a) is formed in the vicinity of the inlet end (8a). As a result, sample component-derived ions are separated from gas flow and collect at the inlet end (8a) and are sucked into the heating capillary (8) and sent to a vacuum chamber. Consequently, more ions can be supplied for mass spectrometry than are conventionally supplied and analysis sensitivity can be improved.
(FR)Selon l'invention, une électrode de réflexion (7) ayant la même forme cylindrique qu'une électrode auxiliaire cylindrique (6), est agencée à l'avant d'un écoulement de nébulisation pulvérisé par une sonde d'ionisation ESI (5), et amène une extrémité d'entrée (8a) d'un capillaire de chauffage (8) à s'étendre jusqu'à un espace compris entre les deux électrodes (6, 7). L'électrode auxiliaire (6) et le capillaire de chauffage (8) sont utilisés comme potentiel de masse et appliquent une tension continue ayant la même polarité que les ions cibles de mesure à l'électrode de réflexion (7). En conséquence, un champ électrique de réflexion, qui réfléchit des ions issus d'un élément échantillon et des gouttelettes chargées qui ont avancé en étant transportés par l'écoulement de nébulisation, est formé dans l'espace compris entre les deux électrodes (6, 7), et un champ électrique de convergence qui fait converger des ions vers l'extrémité d'entrée (8a) est formé dans le voisinage de l'extrémité d'entrée (8a). En conséquence, des ions issus du composant d'échantillon sont séparés de l'écoulement gazeux et se rassemblent au niveau de l'extrémité d'entrée (8a), et sont aspirés dans le capillaire de chauffage (8) et envoyés à une chambre à vide. Par conséquent, davantage d'ions que ce qui est traditionnellement fourni peuvent être fournis pour une spectrométrie de masse, et la sensibilité d'analyse peut être améliorée.
(JA) ESI用のイオン化プローブ(5)から噴出する噴霧流の前方に、円筒状の補助電極6と同じく円筒状の反射電極(7)を配置し、両電極(6,7)の間の空間にまで加熱キャピラリ(8)の入口端(8a)を延出させる。補助電極(6)及び加熱キャピラリ(8)は接地電位とし、反射電極(7)には測定対象イオンと同極性の直流電圧を印加する。これによって、両電極(6,7)の間の空間に、噴霧流に乗って進行する試料成分由来のイオンや帯電液滴を反射させる反射電場が形成されるとともに、入口端(8a)付近にはイオンを該入口端(8a)に集束させる集束電場が形成される。それによって、試料成分由来のイオンはガス流から分離されて入口端(8a)に集まり、加熱キャピラリ(8)中に吸い込まれて真空室へと送られる。その結果、従来よりも多くのイオンを質量分析に供することが可能となり、分析感度を向上させることができる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)