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1. (WO2016117011) TESTEUR DE LUMIÈRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/117011    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/051268
Date de publication : 28.07.2016 Date de dépôt international : 19.01.2015
CIB :
G01N 21/90 (2006.01)
Déposants : DAIWA CAN COMPANY [JP/JP]; 7-2, Marunouchi 2-chome Chiyoda-ku, Tokyo 1007009 (JP)
Inventeurs : YAMAMOTO, Yuki; (JP).
NAGASE, Yukihiko; (JP)
Mandataire : WATANABE, Takeo; (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) LIGHT TESTER
(FR) TESTEUR DE LUMIÈRE
(JA) ライトテスタ
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a light tester that can reduce misdetection of pinholes and can reduce the unwanted removal of non-defective can bodies that arises from said misdetection. A light tester 1 that is provided with: a first inspection pattern (step S3) wherein a threshold value is set at a fixed first value UL; a second inspection pattern (step S4) wherein a detection value X1 in an inspection zone 6 begins to increase, and the threshold value is set at a second value SL that is a determination value M1 plus the detection value X1 at the beginning of the increase; and a third inspection pattern (step S5) wherein the threshold value is set at a third value TL that is another determination value M2 plus the average Ave of the detection value X1 (n) at the point in time at which a can body 2 enters the inspection zone 6 and the detection value X1 (n+2) at the point in time at which the can body 2 leaves the detection zone 6.
(FR)L'invention concerne un testeur de lumière qui peut réduire les erreurs de détection de trous d'épingle et peut réduire le retrait intempestif de corps de récipients non-défectueux qui se produit à partir desdites erreurs de détection. Le testeur de lumière 1 comprend : un premier motif d'inspection (étape S3) dans lequel une valeur de seuil est réglée à une première valeur fixe UL ; un deuxième motif d'inspection (étape S4) dans lequel une valeur de détection X1 dans une zone d'inspection 6 commence à augmenter, et la valeur de seuil est fixée à une deuxième valeur SL qui est une valeur de détermination M1 plus la valeur de détection X1 au début de l'augmentation ; et un troisième motif d'inspection (étape S5) dans lequel la valeur de seuil est réglée à une troisième valeur TL qui est une autre valeur de détermination M2 plus la moyenne Ave de la valeur de détection X1 (n) à l'instant auquel un corps de récipient 2 entre dans la zone d'inspection 6 et la valeur de détection X1 (n +2) à l'instant auquel le corps de récipient 2 quitte la zone de détection 6.
(JA) ピンホールの誤検出やそれに起因して瑕疵のない缶体が排除されてしまうことを抑制できるライトテスタを提供する。 ライトテスタ1において、閾値を一定値である第1の値ULとした第1検査パターン(ステップS3)と、閾値を検査ゾーン6での検出値X1が増大を開始し、その増大を開始した時点での検出値X1に判断値M1を加えて第2の値SLとした第2検査パターン(ステップS4)と、閾値を検査ゾーン6に缶体2が進入した時点での検出値X1(n)と検査ゾーン6から缶体2が出る時点での検出値X1(n+2)との平均値Aveに他の判断値M2を加えて第3の値TLとした第3検査パターン(ステップS5)とを備えている。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)