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1. (WO2016116293) AGENCEMENT DE CIRCUIT POUR TESTS À HAUTE TENSION ET SYSTÈME DE TESTS À HAUTE TENSION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/116293    N° de la demande internationale :    PCT/EP2016/050155
Date de publication : 28.07.2016 Date de dépôt international : 07.01.2016
CIB :
G01R 31/14 (2006.01), H02M 1/00 (2007.01), G01R 31/02 (2006.01), G01R 31/327 (2006.01)
Déposants : SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2 80333 München (DE)
Inventeurs : BOCK, Markus; (DE)
Données relatives à la priorité :
10 2015 200 902.5 21.01.2015 DE
Titre (DE) SCHALTUNGSANORDNUNG FÜR HOCHSPANNUNGSPRÜFUNGEN UND HOCHSPANNUNGSPRÜFANLAGE
(EN) CIRCUIT ASSEMBLY FOR HIGH-VOLTAGE TESTS AND HIGH-VOLTAGE TESTING SYSTEM
(FR) AGENCEMENT DE CIRCUIT POUR TESTS À HAUTE TENSION ET SYSTÈME DE TESTS À HAUTE TENSION
Abrégé : front page image
(DE)Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung (1) für Hochspannungsprüfungen. Die Schaltungsanordnung (1) umfasst eine Wechselspannungsquelle (3) und wenigstens zwei Schaltungszweige (5, 7), die jeweils mit der Wechselspannungsquelle (3) elektrisch verbindbar sind. Dabei ist mittels eines ersten Schaltungszweiges (5) eine elektrische Wechselspannung an einen Prüfling (9) anlegbar, und mittels eines eine Wechselspannung gleichrichtenden zweiten Schaltungszweiges (7) ist eine elektrische Gleichspannung an den Prüfling (9) anlegbar.
(EN)The invention relates to a circuit assembly (1) for high-voltage tests. The circuit assembly (1) comprises an alternating voltage source (3) and at least two circuit branches (5, 7), each of which can be electrically connected to the alternating voltage source (3). An alternating voltage can be applied to a test object (9) by means of a first circuit branch (5), and a direct voltage can be applied to the test object (9) by means of a second circuit branch (7), which rectifies an alternating voltage.
(FR)L'invention concerne un agencement de circuit (1) pour tests à haute tension. L'agencement de circuit (1) comprend une source de tension alternative (3) et au moins deux branches de circuit (5, 7) qui peuvent chacune être reliées électriquement à la source de tension alternative (3). Selon l’invention, une tension électrique alternative peut être appliquée à un dispositif sous test (9) au moyen d'une première branche de circuit (5), et une tension électrique continue peut être appliquée au dispositif sous test (9) au moyen d'une seconde branche de circuit de redressement de tension alternative (7).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)