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1. (WO2016115573) APPAREIL ET PROCÉDÉ POUR ANALYSER UN ÉCHANTILLON
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/115573    N° de la demande internationale :    PCT/US2016/013972
Date de publication : 21.07.2016 Date de dépôt international : 19.01.2016
CIB :
G01N 21/35 (2014.01), G02B 21/00 (2006.01)
Déposants : THE RESEARCH FOUNDATION FOR THE STATE UNIVERSITY OF NEW YORK [US/US]; University At Buffalo Office Of Science, Technology Transfer And Economi Baird Research Park, Suite 111 1576 Sweet Home Road Amherst, NY 14228-2567 (US)
Inventeurs : MARKELZ, Andrea, G.; (US).
ACBAS, Gheorghe; (US).
NIESSEN, Katherine, A.; (US)
Mandataire : WATT, Rachel, S.,; (US)
Données relatives à la priorité :
62/104,677 16.01.2015 US
Titre (EN) APPARATUS AND METHOD FOR ANALYZING A SAMPLE
(FR) APPAREIL ET PROCÉDÉ POUR ANALYSER UN ÉCHANTILLON
Abrégé : front page image
(EN)An apparatus and method for Crystal Anisotropy Terahertz Microscopy ("CATM") is provided. The apparatus includes an emitter configured to emit a THz pulse and a detector configured to detect the THz pulse after the pulse is transmitted through a sample disposed on a sample surface of the detector. A pulsed radiation generator generates a probe beam to interrogate the detector. The detector may include an electro-optical ("EO") crystal configured to change in birefringence according to the THz pulse. The sample surface of the detector may have a dielectric coating which is transmissive to THz and reflective to the probe beam. The sample is disposed on the dielectric coating.
(FR)L'invention concerne un appareil et un procédé de microscopie térahertz à anisotropie cristalline (CATM). L'appareil comprend un émetteur conçu pour émettre une impulsion THz et un détecteur conçu pour détecter l'impulsion THz après que l'impulsion émise a traversé un échantillon disposé sur une surface d'échantillon du détecteur. Un générateur de rayonnement pulsé génère un faisceau de sonde pour interroger le détecteur. Le détecteur peut comprendre un cristal électro-optique (EO) conçu pour changer de biréfringence en fonction de l'impulsion THz. La surface d'échantillon du détecteur peut avoir un revêtement diélectrique qui est transmissif aux THz et réfléchissant vis-à-vis du faisceau de sonde. L'échantillon est disposé sur le revêtement diélectrique.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)