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1. (WO2016115321) INTERFÉROMÈTRE À TRAJET COMMUN ET BASÉ SUR DES RÉSEAUX DE DIFFRACTION POUR UNE SPECTROSCOPIE À TRANSFORMÉE DE FOURIER EN IMAGERIE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/115321    N° de la demande internationale :    PCT/US2016/013366
Date de publication : 21.07.2016 Date de dépôt international : 14.01.2016
CIB :
G01J 3/453 (2006.01), G01B 9/02 (2006.01)
Déposants : MASSACHUSETTS INSTITUTE OF TECHNOLOGY [US/US]; 77 Massachusetts Avenue Cambridge, MA 02139 (US).
NATIONAL UNIVERSITY OF SINGAPORE [SG/SG]; (SG)
Inventeurs : WADDUWAGE, Dushan, Nawoda; (SG).
SINGH, Vijay, Raj; (SG).
CHOI, Heejin; (US).
YAQOOB, Zahid; (US).
SO, Peter; (US)
Mandataire : SIDORIN, Yakov; (US)
Données relatives à la priorité :
62/125,279 16.01.2015 US
Titre (EN) DIFFRACTION-GRATING-BASED COMMON-PATH INTERFEROMETER FOR IMAGING FOURIER-TRANSFORM SPECTROSCOPY
(FR) INTERFÉROMÈTRE À TRAJET COMMUN ET BASÉ SUR DES RÉSEAUX DE DIFFRACTION POUR UNE SPECTROSCOPIE À TRANSFORMÉE DE FOURIER EN IMAGERIE
Abrégé : front page image
(EN)An interferometer employing a 4f optical imaging system, through which both reference and sample beams are propagated, between diffraction gratings configured as input and output beam-splitting / beam-combining components. A Fourier-transform spectrometer utilizing the same and a microscope as an input optical sub-system. The interferometer includes a variable-phase-delay optical element in a Fourier plane of the imaging spectrometer defined between lens elements of the 4f optical system. In a special case, an additional 4f optical imaging system is used at the output of the interferometer, through which interferograms are registered at the detector. Light output collected by the detector has the same optical path difference between reference and sample beams at any point across field-of-view. A method for performing imaging spectrometry and forming images of an object under the microscope.
(FR)L'invention concerne un interféromètre qui utilise un système d'imagerie optique 4f, à travers lequel se propagent des faisceaux de référence et d'échantillon, entre des réseaux de diffraction faisant office de composants de division de faisceaux/de combinaison de faisceaux d'entrée et de sortie. Un spectromètre à transformée de Fourier utilise cet interféromètre et un microscope servant de sous-système optique d'entrée. L'interféromètre inclut un élément optique à retard de phase variable dans un plan de Fourier du spectromètre imageur défini entre des éléments lentilles du système optique 4f. Dans un cas particulier, un système d'imagerie optique 4f supplémentaire est utilisé à la sortie de l'interféromètre, par le biais duquel des interférogrammes sont enregistrés dans le détecteur. Le rendement lumineux collecté par le détecteur présente la même différence de trajet optique entre les faisceaux de référence et d'échantillon à n'importe quel point dans le champ de vision. L'invention se rapporte également à un procédé qui permet de réaliser une spectrométrie image et de former des images d'un objet sous le microscope.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)