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1. (WO2016115260) PROCÉDÉ DE MESURE DE DOMAINE DE FAISCEAUX MULTIPLES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/115260    N° de la demande internationale :    PCT/US2016/013264
Date de publication : 21.07.2016 Date de dépôt international : 13.01.2016
CIB :
G01C 3/08 (2006.01)
Déposants : DSCG SOLUTIONS, INC. [US/US]; 3859 Centerview Drive Suite 300 Chantilly, Virginia 20151 (US)
Inventeurs : SEBASTIAN, Richard; (US)
Mandataire : BENNETT, Daniel M.; (US)
Données relatives à la priorité :
62/102,901 13.01.2015 US
Titre (EN) A MULTIPLE BEAM RANGE MEASUREMENT PROCESS
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE DE DOMAINE DE FAISCEAUX MULTIPLES
Abrégé : front page image
(EN)In one general aspect, an apparatus can include a first laser subsystem configured to transmit a first laser beam at a first location on an object at a time and a second laser subsystem configured to transmit a second laser beam at a second location on the object at the time. The apparatus can include an analyzer configured to calculate a first velocity based on a first reflected laser beam reflected from the object in response to the first laser beam. The analyzer can be configured to calculate a second velocity based on a second reflected laser beam reflected from the object in response to the second laser beam. The first location can be targeted by the first laser subsystem and the second location can be targeted by the second laser subsystem such that the first velocity is substantially the same as the second velocity.
(FR)Selon un aspect général, un appareil peut comprendre un premier sous-système laser conçu pour émettre un premier faisceau laser au niveau d'un premier emplacement sur un objet à un moment et un second sous-système laser conçu pour émettre un second faisceau laser au niveau d'un second emplacement sur l'objet à ce moment. L'appareil peut comprendre un analyseur conçu pour calculer une première vitesse sur la base d'un premier faisceau laser réfléchi qui a été réfléchi par l'objet en réponse au premier faisceau laser. L'analyseur peut être conçu pour calculer une seconde vitesse sur la base d'un second faisceau laser réfléchi qui a été réfléchi par l'objet en réponse au second faisceau laser. Le premier emplacement peut être ciblé par le premier sous-système laser et le second emplacement peut être ciblé par le second sous-système laser de telle sorte que la première vitesse est sensiblement la même que la seconde vitesse.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)