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1. (WO2016114545) DISPOSITIF DE MESURE MULTIFONCTIONNEL
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/114545    N° de la demande internationale :    PCT/KR2016/000267
Date de publication : 21.07.2016 Date de dépôt international : 12.01.2016
CIB :
G01B 3/00 (2006.01), G01B 3/20 (2006.01), B43L 7/00 (2006.01)
Déposants : WANG, Hee-Gee [KR/KR]; (KR)
Inventeurs : WANG, Hee-Gee; (KR)
Mandataire : WON, Eun Sup; (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2015-0007892 16.01.2015 KR
Titre (EN) MULTI-FUNCTIONAL MEASUREMENT DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE MULTIFONCTIONNEL
(KO) 다기능 측정 기구
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to a multi-functional measurement device, and the aim of the present invention is to provide a multi-functional measurement device enabling precise drawing of a line by adding a function that enables drawing a line on an exact position even when various writing instruments having different pen core thicknesses are used in the device in which gradations for measurement are formed. The multi-functional measurement device of the present invention for achieving the aim is configured by having: a measurement part which includes a main body, a venier which is slidably coupled into the main body and has gradations in the lengthwise direction, and a main scale (10) which is slidably coupled into the venier and has gradations in the lengthwise direction; and a line drawing scale which is integrally formed in the lengthwise direction of the venier and in which gradations are formed in the lengthwise direction, the device being characterized in that a fixing part for inserting and fixing a writing instrument at each fixed interval is formed on the line drawing scale.
(FR)La présente invention concerne un dispositif de mesure multifonctionnel, et l'objectif de la présente invention est de fournir un dispositif de mesure multifonctionnel permettant le tracé précis d'une ligne en ajoutant une fonction qui permet de tracer une ligne à une position exacte même lorsque différents instruments d'écriture ayant différentes épaisseurs de mine de crayon sont utilisés dans le dispositif dans lequel sont formées des graduations pour la mesure. Pour réaliser l'objectif, le dispositif de mesure multifonctionnel de la présente invention comporte : une partie de mesure qui comprend un corps principal, un vernier qui est accouplé en coulissement dans le corps principal et comporte des graduations dans le sens de la longueur, et une échelle principale (10) qui est accouplée en coulissement dans le vernier et possède des graduations dans le sens de la longueur ; et une échelle de tracé de ligne qui est partie intégrante du vernier dans le sens de la longueur et dont les graduations sont formées dans le sens de la longueur, le dispositif étant caractérisé par le fait qu'une partie de fixation pour insérer et fixer un instrument d'écriture à chaque intervalle fixe est formée sur l'échelle de tracé de ligne.
(KO)본 발명은 다기능 측정 기구에 관한 것으로, 측정을 위한 눈금이 형성된 기구에 펜심의 굵기가 다른 다양한 필기구를 사용하더라도 정확한 위치에 선 긋기가 가능하도록 한 기능을 추가하여 정밀한 선 긋기가 가능하도록 한 다기능 측정 기구를 제공하는데 그 목적이 있다. 상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다기능 측정 기구는, 본체와, 상기 본체로부터 슬라이딩 가능하게 결합되며 길이 방향으로 눈금이 형성된 부척과, 상기 부척으로부터 슬라이딩 가능하게 결합되며 길이방향으로 눈금이 형성된 본척(10)으로 측정부; 상기 부척의 길이방향을 따라 일체로 형성되며, 길이방향으로 눈금이 형성된 선긋기 척으로 구성되고, 상기 선긋기 척에는 일정간격마다 필기구를 삽입시켜 고정하기 위한 고정부가 형성된 것을 특징으로 한다.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)