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1. (WO2016111293) SONDE DE KELVIN ET APPAREIL D'INSPECTION DE KELVIN LA COMPRENANT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/111293    N° de la demande internationale :    PCT/JP2016/050137
Date de publication : 14.07.2016 Date de dépôt international : 05.01.2016
CIB :
G01R 1/073 (2006.01), G01R 31/26 (2014.01)
Déposants : OMRON CORPORATION [JP/JP]; 801, Minamifudodo-cho, Horikawahigashiiru, Shiokoji-dori, Shimogyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6008530 (JP)
Inventeurs : TERANISHI, Hirotada; (JP).
SAKAI, Takahiro; (JP)
Mandataire : SAMEJIMA, Mutsumi; (JP)
Données relatives à la priorité :
2015-001025 06.01.2015 JP
Titre (EN) KELVIN PROBE AND KELVIN INSPECTION UNIT PROVIDED WITH SAME
(FR) SONDE DE KELVIN ET APPAREIL D'INSPECTION DE KELVIN LA COMPRENANT
(JA) ケルビンプローブ、および、これを備えたケルビン検査ユニット
Abrégé : front page image
(EN)A Kelvin probe (30) provided with first and second probe pins (40, 50) that are disposed in parallel with an interval interposed therebetween, wherein the first and second probe pins (40, 50) each have a coil spring (80) that expands and contracts along a first straight line (L1), a first contact (65) disposed on a second straight line (L2) parallel to the first straight line (L1), and a second contact (74) disposed on the first straight line (L1) and the first and second contacts (65, 74) are directly electrically connected to each other and supported so as to be capable of reciprocal movement caused by the elastic force of the coil spring 80. Further, the first contacts (65) of the first and second probe pins (40, 50) are disposed between the first straight lines (L1) of the first and second probe pins (60, 70) in a planar view including the first and second straight lines (L1, L2).
(FR)L'invention concerne une sonde de Kelvin (30) comportant des première et seconde broches de sonde (40, 50) qui sont disposées en parallèle et séparées par un intervalle, les première et seconde broches de sonde (40, 50) ayant chacune un ressort hélicoïdal (80) qui se dilate et se contracte le long d'une première ligne droite (L1), un premier contact (65) disposé sur une seconde ligne droite (L2) parallèle à la première ligne droite (L1), et un second contact (74) disposé sur la première ligne droite (L1), et les premier et second contacts (65, 74) étant directement raccordés électriquement l'un à l'autre et supportés de manière à être capables d'un mouvement de va-et-vient provoqué par la force élastique du ressort hélicoïdal (80). En outre, les premiers contacts (65) des première et seconde broches de sonde (40, 50) sont disposés entre les premières lignes droites (L1) des première et seconde broches de sonde (60, 70) dans une vue en plan comprenant les première et secondes lignes droites (L1, L2).
(JA) 間隔を空けて平行に配置された第1,第2プローブピン(40,50)を備えるケルビンプローブ(30)において、第1,第2プローブピン(40,50)の各々が、第1直線(L1)に沿って伸縮するコイルばね(80)と、第1直線(L1)に平行な第2直線(L2)上に配置された第1接点(65)と、第1直線上(L1)に配置された第2接点(74)と、を有しており、第1,第2接点(65,74)が、相互に直接導通していると共に、コイルばね80の弾性力を介して往復移動可能に支持されている。また、第1,第2プローブピン(40,50)の第1接点(65)の各々が、第1,第2直線(L1,L2)を含む平面視において、第1,第2プローブピン(60,70)の第1直線(L1)の間に配置されている。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)