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1. (WO2016108624) PROCÉDÉ PERMETTANT DE DIAGNOSTIQUER L'ÉTAT D'UN CONDENSATEUR DANS UN CONVERTISSEUR MODULAIRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/108624    N° de la demande internationale :    PCT/KR2015/014492
Date de publication : 07.07.2016 Date de dépôt international : 30.12.2015
CIB :
G01R 31/02 (2006.01)
Déposants : HYOSUNG CORPORATION [KR/KR]; (Gongdeok-dong), Mapo-daero 119 Mapo-gu Seoul 04144 (KR)
Inventeurs : OH, Jae Hoon; (KR).
SEO, Jae Jin; (KR)
Mandataire : NAMCHON PATENT AND LAW FIRM; (Doryeom-dong), #406, Doryeom Bldg, 37, Saemunan-ro 5-gil Jongno-gu Seoul 03173 (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2014-0195574 31.12.2014 KR
Titre (EN) METHOD FOR DIAGNOSING STATE OF CAPACITOR IN MODULAR CONVERTER
(FR) PROCÉDÉ PERMETTANT DE DIAGNOSTIQUER L'ÉTAT D'UN CONDENSATEUR DANS UN CONVERTISSEUR MODULAIRE
(KO) 모듈형 컨버터의 커패시터 상태진단방법
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to a method for diagnosing the state of a capacitor in a modular converter. The method for diagnosing the state of a capacitor according to the present invention comprises: a table determination step for determining an FIT table according to input voltages and temperatures of an internal capacitor with respect to a plurality of sample modular converters; an input voltage detection step for detecting, by an input voltage detection unit, an input voltage of a capacitor at predetermined periods in a modular converter to be measured, for which the state of a capacitor is diagnosed; a temperature detection step for detecting, by a temperature detection unit, a temperature of the capacitor of the modular converter to be measured, at the predetermined periods; a cumulative average value calculation step for calculating cumulative average values of the input voltages and the temperatures of the capacitor, detected by the input voltage detection unit and the temperature detection unit respectively during the periods; a selection step for selecting, by a control unit, an FIT value corresponding to the calculated cumulative average values for the input voltage and the temperature in the FIT table; and an extraction step for extracting a mean time between failures (MTBF) of the capacitor from the FIT value.
(FR)La présente invention concerne un procédé permettant de diagnostiquer l'état d'un condensateur dans un convertisseur modulaire. Le procédé permettant de diagnostiquer l'état d'un condensateur selon la présente invention comprend : une étape de détermination de table permettant de déterminer une table FIT selon des tensions d'entrée et des températures d'un condensateur interne par rapport à une pluralité de convertisseurs modulaires d'échantillon ; une étape de détection de tension d'entrée permettant de détecter, grâce à une unité de détection de tension d'entrée, une tension d'entrée d'un condensateur à des périodes prédéterminées dans un convertisseur modulaire à mesurer, pour lequel l'état d'un condensateur est diagnostiqué ; une étape de détection de température permettant de détecter, grâce à une unité de détection de température, une température du condensateur du convertisseur modulaire à mesurer, aux périodes prédéterminées ; une étape de calcul de valeurs moyennes cumulées permettant de calculer des valeurs moyennes cumulées des tensions d'entrée et des températures du condensateur, détectées par l'unité de détection de tension d'entrée et l'unité de détection de température respectivement pendant les périodes ; une étape de sélection permettant de sélectionner, grâce à une unité de commande, une valeur FIT correspondant aux valeurs moyennes cumulées calculées pour la tension d'entrée et la température dans la table FIT ; et une étape d'extraction permettant d'extraire un temps médian entre les défaillances (MTBF) du condensateur à partir de la valeur FIT.
(KO)본 발명은 모듈형 컨버터의 커패시터 상태진단방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 커패시터의 상태진단방법은, 다수의 샘플 모듈형 컨버터에 대하여 내부의 커패시터의 입력전압 및 온도에 따른 FIT 테이블을 결정하는 테이블 결정단계; 입력전압검출부에서 커패시터의 상태를 진단하고자 하는 측정대상 모듈형 컨버터에서 커패시터의 입력전압을 기설정된 주기에 검출하는 입력전압 검출단계; 온도검출부에서 상기 측정대상 모듈형 컨버터의 커패시터의 온도를 상기 주기에 따라 검출하는 온도검출단계; 상기 주기동안 상기 입력전압검출부 및 온도검출부에서 각각 검출된 커패시터의 입력전압 및 온도에 대한 누적평균값을 연산하는 누적평균값 연산단계; 제어부에서 상기 연산된 입력전압 및 온도 누적평균값에 대응하는 FIT값을 상기 FIT 테이블에서 선택하는 선택단계; 및 상기 FIT값으로부터 상기 커패시터의 평균고장시간(MTBF)을 추출하는 추출단계를 포함한다.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)