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1. (WO2016108520) DISPOSITIF D'INSPECTION DE CONTACT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/108520    N° de la demande internationale :    PCT/KR2015/014262
Date de publication : 07.07.2016 Date de dépôt international : 24.12.2015
CIB :
G01R 1/04 (2006.01), G01R 1/073 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01), G01R 31/26 (2006.01)
Déposants : KIM, Il [KR/KR]; (KR)
Inventeurs : KIM, Il; (KR)
Mandataire : PARK, Keon Woo; (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2015-0000357 04.01.2015 KR
10-2015-0003880 11.01.2015 KR
10-2015-0011727 25.01.2015 KR
Titre (EN) CONTACT INSPECTION DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION DE CONTACT
(KO) 검사접촉장치
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to a contact inspection device comprising: a first guide plate having a first probe hole formed therein; a second guide plate which is positioned parallel to the first guide plate and has a second probe hole formed therein; an intermediate plate which is positioned between the first guide plate and the second guide plate and has an intermediate hole formed therein; and a probe which is inserted into the first probe hole, the second probe hole and the intermediate hole, wherein the intermediate plate is relatively moveable with respect to the first guide plate and the second guide plate, the probe is bent in at least a portion thereof, and the bent portion contacts a wall surface of the intermediate hole. The contact inspection device according to the present invention has the effects of being capable of effectively preventing short circuits between narrow pitch probes without forming an insulating covering on the probes, and easily replacing probes without disassembling the contact inspection device.
(FR)La présente invention concerne un dispositif d'inspection de contact comprenant : une première plaque de guidage comportant un premier trou de sonde formé dans celle-ci ; une deuxième plaque de guidage qui est positionnée parallèlement à la première plaque de guidage et comporte un deuxième trou de sonde formé dans celle-ci ; une plaque intermédiaire qui est positionnée entre la première plaque de guidage et la deuxième plaque de guidage et comporte un trou intermédiaire formé dans celle-ci ; et une sonde qui est insérée dans le premier trou de sonde, le deuxième trou de sonde et le trou intermédiaire, où la plaque intermédiaire est mobile relativement par rapport à la première plaque de guidage et la deuxième plaque de guidage, la sonde est courbée dans au moins une partie de celle-ci, et la partie courbée est en contact avec une surface de paroi du trou intermédiaire. Le dispositif d'inspection de contact de la présente invention est capable d'empêcher efficacement des courts-circuits entre des sondes à pas étroit sans former de revêtement isolant sur les sondes, et de remplacer facilement les sondes sans démonter le dispositif d'inspection de contact.
(KO)본 발명은 검사접촉장치에 관한 것으로서, 제1 프로브홀이 형성되는 제1 가이드 플레이트; 상기 제1 가이드 플레이트와 평행하게 위치하며, 제2 프로브홀이 형성되는 제2 가이드 플레이트; 상기 제1 가이드 플레이트 및 상기 제2 가이드 플레이트 사이에 위치하며, 중간홀이 형성된 중간 플레이트; 및 상기 제1 프로브홀, 상기 제2 프로브홀 및 상기 중간홀에 삽입되는 프로브;를 포함하며, 상기 중간 플레이트는 상기 제1 가이드 플레이트 및 상기 제2 가이드 플레이트에 대해 상대적으로 이동 가능하고, 상기 프로브는 적어도 일부분이 벤딩되어 있으며, 상기 벤딩된 부분이 상기 중간홀의 벽면에 접해 있는 것을 특징으로 한다. 본 발명의 검사접촉장치에 따르면, 프로브에 절연성 피복을 형성하지 않아도 협피치의 프로브들 간의 합선을 효과적으로 방지할 수 있고, 검사접촉장치를 분해하지 않고도 프로브를 간편하게 교체할 수 있는 효과가 있다.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)