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1. (WO2016108198) PATIN DE MESURE DE VAPEUR
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/108198    N° de la demande internationale :    PCT/IB2015/060053
Date de publication : 07.07.2016 Date de dépôt international : 30.12.2015
CIB :
G01F 25/00 (2006.01), G01F 15/00 (2006.01), G01F 15/02 (2006.01), G01F 5/00 (2006.01)
Déposants : ABEINSA EPC MEXICO, S.A. DE C.V [MX/MX]; Bahía de Santa Barbara 174, Col. Veronica Anzures. Ciudad De Mexico, 11300 (MX)
Inventeurs : EDGAR, ALEJANDRO, Zapien Ovando; (MX).
MIGUEL ANGEL, Ortiz Garica; (MX)
Mandataire : ALAVEZ NEJIA, Eric Aarón; Insurgentes Sur 1722, Desp. 701 Col. Florida, Del Alvaro Obregòn CP 01030 México D.F. (MX)
Données relatives à la priorité :
P201431953 30.12.2014 ES
Titre (EN) VAPOUR METERING SKID
(ES) PATÍN DE MEDICIÓN DE VAPOR
(FR) PATIN DE MESURE DE VAPEUR
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to a vapour metering skid for custody transfer applications, comprising at least two metering units, namely a main unit and a back-up unit for the main unit, with a calibration unit being provided for the skid in one embodiment, said units being interconnected so that it is possible to meter 100% of the vapour that enters the metering skid. In addition, the metering skid can self-calibrate.
(ES)Se describe un patín de medición de vapor para custodia integrado por al menos dos trenes de medición que son un tren principal y un tren de respaldo del tren principal, en una realización se provee un tren de calibración para el patín, estos trenes están interconectados a fin de poder medir el 100% del vapor que entra al patín de medición, además el patín de medición se puede auto-calibrar.
(FR)L'invention concerne un patin de mesure de vapeur pour intégré d'au moins deux trains de mesure qui sont un train principal et un train d'appui du train principal, dans une réalisation un train d'étalonnage est prévu pour le patin, ces trains sont interconnectés afin de pouvoir mesurer 100% de la vapeur qui entre dans le patin de mesure, en outre le patin de mesure peut s'auto-étalonner.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : espagnol (ES)
Langue de dépôt : espagnol (ES)