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1. (WO2016107995) SYSTÈME D'ANALYSE D'UN ÉCHANTILLON TRANSPARENT AVEC CONTRÔLE DE POSITION, ET PROCÉDÉ ASSOCIE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/107995    N° de la demande internationale :    PCT/FR2015/052857
Date de publication : 07.07.2016 Date de dépôt international : 23.10.2015
CIB :
G01N 15/14 (2006.01), G01N 15/10 (2006.01)
Déposants : COMMISSARIAT À L'ÉNERGIE ATOMIQUE ET AUX ÉNERGIES ALTERNATIVES [FR/FR]; 25, rue Leblanc Bâtiment "Le Ponant D" F-75015 Paris (FR).
BIOMERIEUX [FR/FR]; F-69280 Marcy-L'Etoile (FR)
Inventeurs : PERRAUT, François; (FR).
JOLY, Pierre; (FR).
JOSSO, Quentin; (FR).
KLOSTER-LANDSBERG, Meike; (DE)
Mandataire : AUGARDE, Eric; Brevalex 56 boulevard de l'Embouchure, B.P. 27519 F-31075 Toulouse Cedex 2 (FR)
Données relatives à la priorité :
1463445 30.12.2014 FR
Titre (EN) SYSTEM FOR ANALYSING A TRANSPARENT SAMPLE WITH CONTROL OF POSITION, AND ASSOCIATED METHOD
(FR) SYSTÈME D'ANALYSE D'UN ÉCHANTILLON TRANSPARENT AVEC CONTRÔLE DE POSITION, ET PROCÉDÉ ASSOCIE
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to a system (200) for analysing a transparent particle comprising: an analysis pathway, comprising a first light source (170) emitting an analysis light beam, and a first optical system (140) focusing the analysis light beam in a focusing plane ( Π 0 ); and a position control pathway comprising a second light source (110), an image sensor (160), and a second optical system (150, 140) at least partially merged with the first optical system. According to the invention the image sensor (160) is offset relative to the image ( Π/ ) of the focusing plane by the second optical system (150, 140). It makes it possible to control the correct positioning of the particle, even though it is transparent, and without disturbing the analysis pathway.
(FR)L'invention concerne un système (200) d'analyse d'une particule transparente comprenant : une voie d'analyse, comprenant une première source lumineuse (170) émettant un faisceau lumineux d'analyse, et un premier système optique (140) focalisant le faisceau lumineux d'analyse dans un plan de mise au point ( Π 0 ); et une voie de contrôle de position, comprenant une deuxième source lumineuse (110), un capteur d'images (160), et un deuxième système optique (150, 140) confondu au moins partiellement avec le premier système optique. Selon l'invention le capteur d'images (160) est décalé relativement à l'image ( Π/ ) du plan de mise au point par le deuxième système optique (150, 140). Il permet de contrôler le bon positionnement de la particule, bien qu'elle soit transparente, et sans dérégler la voie d'analyse.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : français (FR)
Langue de dépôt : français (FR)