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1. WO2016063569 - DISPOSITIF D'ANALYSE D'ÉCHANTILLON

Numéro de publication WO/2016/063569
Date de publication 28.04.2016
N° de la demande internationale PCT/JP2015/067492
Date du dépôt international 17.06.2015
CIB
G01N 21/59 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
59Transmissivité
G01N 21/27 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
25Couleur; Propriétés spectrales, c. à d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
27en utilisant la détection photo-électrique
G01N 35/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
35Analyse automatique non limitée à des procédés ou à des matériaux spécifiés dans un seul des groupes G01N1/-G01N33/153; Manipulation de matériaux à cet effet
G01N 37/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
37Détails non couverts par les autres groupes de la présente sous-classe
G01N 21/07 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
01Dispositions ou appareils pour faciliter la recherche optique
03Détails de structure des cuvettes
07Cuvettes du type centrifuge
CPC
G01N 21/07
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
03Cuvette constructions
07Centrifugal type cuvettes
G01N 21/27
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
27using photo-electric detection
G01N 21/59
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
59Transmissivity
G01N 35/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
G01N 37/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
37Details not covered by any other group of this subclass
Déposants
  • シャープ株式会社 SHARP KABUSHIKI KAISHA [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 綱澤 啓 TSUNASAWA, Hiroshi
  • 中村 篤 NAKAMURA, Atsushi
  • 藤田 大河 FUJITA, Hiroka
Mandataires
  • 特許業務法人HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK
Données relatives à la priorité
2014-21662123.10.2014JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) SAMPLE ANALYSIS DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE D'ÉCHANTILLON
(JA) 試料分析装置
Abrégé
(EN)
A sample analysis device (100) is provided with a chip (102) in which a reference chamber (414) accommodating a sample and a measurement chamber (404) accommodating a measurement liquid are formed on the same circumference of an axis of rotation (450) and with a measurement unit (109) for analyzing a component included in the sample on the basis of the amount of transmitted reference light that has passed through the reference chamber (414) and the amount of transmitted measurement light that has passed through the measurement chamber (404).
(FR)
L'invention concerne un dispositif d'analyse d'échantillon (100) pourvu d'une puce (102) dans laquelle une chambre de référence (414) accueillant un échantillon et une chambre de mesure (404) accueillant un liquide de mesure sont formées sur la même circonférence d'un axe de rotation (450) et d'une unité de mesure (109) pour analyser un composant inclus dans l'échantillon sur la base de la quantité de lumière de référence transmise qui est passée à travers la chambre de référence (414) et de la quantité de lumière de mesure transmise qui est passée à travers la chambre de mesure (404).
(JA)
試料分析装置(100)は、試料を収容した基準室(414)と、測定液を収容した測定室(404)とが回転軸(450)の周りに同一円周上に形成されたチップ(102)と、基準室(414)を透過した基準透過光量と、測定室(404)を透過した測定透過光量とに基づいて試料に含まれる成分を分析する計測部(109)とを備える。
Également publié en tant que
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