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1. (WO2016043327) UNITÉ À SONDE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/043327    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/076789
Date de publication : 24.03.2016 Date de dépôt international : 18.09.2015
CIB :
G01R 1/073 (2006.01), G01R 1/067 (2006.01), G01R 31/26 (2014.01), H01L 21/66 (2006.01), H01R 13/24 (2006.01)
Déposants : NHK SPRING CO., LTD. [JP/JP]; 3-10, Fukuura, Kanazawa-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 2360004 (JP)
Inventeurs : YAMADA, Yoshio; (JP).
HIRONAKA, Kohei; (JP)
Mandataire : SAKAI, Hiroaki; (JP)
Données relatives à la priorité :
2014-191972 19.09.2014 JP
Titre (EN) PROBE UNIT
(FR) UNITÉ À SONDE
(JA) プローブユニット
Abrégé : front page image
(EN)In this probe unit that houses multiple contact probes for electrically connecting a test object and a signal processing device that outputs test signals, the probe unit is configured so that large current probes (3) electrically connect at both ends with electrodes of an object in contact therewith and pass large currents via metal blocks (50) that contact both ends of the large current probes (3). Therefore the probe unit is suitable for passing large currents.
(FR)Dans cette unité à sonde qui renferme de multiples sondes de contact pour connecter électriquement un objet de test et un dispositif de traitement de signaux délivrant des signaux de test, l'unité à sonde est configurée de telle sorte que des sondes pour courants forts (3) se connectent électriquement au niveau des deux extrémités à des électrodes d'un objet en contact avec celles-ci et laissent passer des courants forts par l'intermédiaire des blocs de métal (50) qui sont en contact avec les deux extrémités de sondes pour courants forts (3). Par conséquent, l'unité à sonde est adaptée pour le passage de courants forts.
(JA) 本発明にかかるプローブユニットは、検査対象と検査用信号を出力する信号処理装置との間の電気的な接続を図るコンタクトプローブを複数収容するプローブユニットにおいて、大電流プローブ(3)が接触対象の電極と両端で電気的に接続するとともに、大電流プローブ(3)の両端部と接触する金属ブロック(50)を介して大電流を流すようにしたので、大電流を流すのに好適である。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)