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1. (WO2016043013) DISPOSITIF D'ANALYSE PAR RAYONS X

Pub. No.:    WO/2016/043013    International Application No.:    PCT/JP2015/074270
Publication Date: 24 mars 2016 International Filing Date: 27 août 2015
IPC: G01N 23/223
G01N 23/207
G01T 1/17
G01T 1/36
Applicants: RIGAKU CORPORATION
株式会社リガク
Inventors: SAKO,Yukio
迫 幸雄
Title: DISPOSITIF D'ANALYSE PAR RAYONS X
Abstract:
La présente invention concerne un dispositif d'analyse par rayons X comprenant une combinaison des éléments suivants : un premier moyen de correction (13A, 13B) qui délivre en sortie un premier gain servant à faire correspondre la valeur de crête d'onde d'un pic cible, qui a été estimé sur la base de la somme d'un taux de comptage déterminé par une mesure préliminaire, à une valeur de crête d'onde attendue prédéterminée; et un second moyen de correction (14A, 14B) qui effectue un contrôle à rétroaction en temps réel pour délivrer en sortie un second gain qui doit être ajouté au premier gain, et qui effectue cette sortie afin de faire correspondre une valeur de crête d'onde d'un pic cible détecté dans une plage prédéterminée d'énergie à une valeur de crête d'onde attendue. En outre, le dispositif d'analyse par rayons x est pourvu d'un moyen d'arrêt de contrôle à rétroaction (16A, 16B) qui détermine avec précision la présence ou l'absence d'une raie d'interférence par rapport à un pic cible, et quand il a été déterminé qu'il existe une raie d'interférence, fixe le gain à une certaine valeur constituant en le premier gain.