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1. (WO2016040603) SPECTROMÈTRE À RÉSEAU INCURVÉ ET MULTIPLEXEUR OU DÉMULTIPLEXEUR DE LONGUEUR D'ONDE À TRÈS HAUTE RÉSOLUTION DE LONGUEUR D'ONDE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/040603    N° de la demande internationale :    PCT/US2015/049386
Date de publication : 17.03.2016 Date de dépôt international : 10.09.2015
CIB :
G01J 3/18 (2006.01), G01J 3/28 (2006.01), G01N 21/31 (2006.01)
Déposants : ELECTRONIC PHOTONIC IC INC. (EPIC INC.) [US/US]; 120 Picardy Lane Wheeling, IL 60090 (US).
HO, Seng-Tiong [US/US]; (US).
HUANG, Yingyan [CN/US]; (US)
Inventeurs : HO, Seng-Tiong; (US).
HUANG, Yingyan; (US)
Mandataire : SCHERER, Christopher, M.; (US)
Données relatives à la priorité :
14/482,615 10.09.2014 US
Titre (EN) CURVED GRATING SPECTROMETER AND WAVELENGTH MULTIPLEXER OR DEMULTIPLEXER WITH VERY HIGH WAVELENGTH RESOLUTION
(FR) SPECTROMÈTRE À RÉSEAU INCURVÉ ET MULTIPLEXEUR OU DÉMULTIPLEXEUR DE LONGUEUR D'ONDE À TRÈS HAUTE RÉSOLUTION DE LONGUEUR D'ONDE
Abrégé : front page image
(EN)The present application discloses a system comprising a compact curved grating (CCG) and its associated compact curved grating spectrometer (CCGS) or compact curved grating wavelength multiplexer/demultiplexer (WMDM) module and a method for making the same. The system is capable of achieving a very small (resolution vs. size) RS factor. The location; of the entrance slit and detector can be adjusted in order to have the best performance for a particular design goal. The initial groove spacing is calculated using a prescribed formula dependent on operation wavelength. The location of the grooves is calculated based on two conditions. The first one being that the path-difference between adjacent grooves should be ah integral multiple of the wavelength in the medium to achieve aberration-free grating focusing at the detector or a first anchor output slit even with large beam diffraction angle from the entrance slit or input slit, the second one being specific for a particular design goal of a curved-grating spectrometer.
(FR)La présente invention concerne un système comprenant un réseau incurvé compact (CCG) et son spectromètre à réseau incurvé compact (CCGS) associé ou son module de multiplexeur/démultiplexeur de longueur d'onde (WMDM) à réseau incurvé compact associé et un procédé pour les fabriquer. Le système est capable d'atteindre un facteur RS (résolution par rapport à taille) très petit. L'emplacement de la fente d'entrée et du détecteur peut être ajusté de manière à avoir la meilleure performance pour un objectif de conception particulière. L'espacement initial entre les rainures est calculé à l'aide d'une formule prédéfinie dépendant de la longueur d'onde de fonctionnement. L'emplacement des rainures est calculé sur la base de deux conditions. La première étant que la différence de trajet entre des rainures adjacentes doit être un multiple entier de la longueur d'onde dans le milieu pour atteindre une focalisation de réseau sans aberration sur le détecteur ou une première fente de sortie d'ancrage, même avec un grand angle de diffraction de faisceau à partir de la fente d'entrée ou de la fente d'admission, et la seconde étant spécifique d'un objectif de conception particulière d'un spectromètre à réseau incurvé.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)