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1. (WO2016039219) DISPOSITIF DE DÉVELOPPEMENT D’ÉTAPE DE DÉTECTION D’ANOMALIE ET PROCÉDÉ DE DÉVELOPPEMENT D’ÉTAPE DE DÉTECTION D’ANOMALIE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/039219    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/074831
Date de publication : 17.03.2016 Date de dépôt international : 01.09.2015
CIB :
G05B 23/02 (2006.01)
Déposants : HITACHI, LTD. [JP/JP]; 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280 (JP)
Inventeurs : HIRUTA Tomoaki; (JP).
UCHIDA Takayuki; (JP).
SAKIMURA Shigetoshi; (JP).
FUJISHIRO Takahiro; (JP)
Mandataire : ISONO INTERNATIONAL PATENT OFFICE, P.C.; Hulic Toranomon Building, 1-18, Toranomon 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1050001 (JP)
Données relatives à la priorité :
2014-183084 09.09.2014 JP
Titre (EN) ABNORMALITY DETECTION STEP DEVELOPING DEVICE AND ABNORMALITY DETECTION STEP DEVELOPING METHOD
(FR) DISPOSITIF DE DÉVELOPPEMENT D’ÉTAPE DE DÉTECTION D’ANOMALIE ET PROCÉDÉ DE DÉVELOPPEMENT D’ÉTAPE DE DÉTECTION D’ANOMALIE
(JA) 異常検知手順開発装置および異常検知手順開発方法
Abrégé : front page image
(EN)An abnormality detection step developing device (10) is provided with: a parameter setting unit (14) that sets parameter verification ranges with respect to parameters relating to abnormality determination included in a mechanical device abnormality detection step; an evaluation unit (15), which changes parameters values within the parameter verification ranges, and evaluates, with respect to the parameter values thus changed, abnormality detection performances of the abnormality detection step; and a display unit (19) that displays a performance evaluation table, i.e., a list of the abnormality detection performances evaluated by means of the evaluation unit (15) with respect to the parameter values.
(FR)L’invention concerne un dispositif de développement d’étape de détection d’anomalie (10), comprenant : une unité de réglage de paramètres (14) qui définit des plages de vérification de paramètre pour des paramètres relatifs à la détermination d’anomalie incluse dans une étape de détection d’anomalie de dispositif mécanique ; une unité d’évaluation (15), qui modifie des valeurs de paramètres à l’intérieur des plages de vérification de paramètre et évalue, pour les valeurs de paramètre ainsi modifiées, les performances de détection d’anomalie de l’étape de détection d’anomalie ; et une unité d’affichage (19) qui affiche une table d’évaluation de performances, c’est-à-dire une liste de performances de détection d’anomalie évaluées au moyen de l’unité d’évaluation (15) pour les valeurs de paramètre.
(JA)異常検知手順開発装置(10)は、機械装置の異常検知手順に含まれる異常判定に係るパラメータについて、パラメータ検証範囲を設定するパラメータ設定部(14)と、パラメータの値を前記パラメータ検証範囲で変化させ、その変化させたそれぞれのパラメータの値について、異常検知手順の異常検知性能を評価する評価部(15)と、前記それぞれのパラメータの値について、評価部(15)によって評価された異常検知性能の一覧である性能評価テーブルを表示する表示部(19)と、を備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)