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1. (WO2016038080) PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE TEST D'UNE UNITÉ ÉLECTRONIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/038080    N° de la demande internationale :    PCT/EP2015/070591
Date de publication : 17.03.2016 Date de dépôt international : 09.09.2015
CIB :
G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : ENICS AG [CH/CH]; Thurgauerstrasse 40 CH-8050 Zürich (CH)
Inventeurs : FEDERLEY, Kristian; (FI).
MATTILA, Jukka; (FI)
Mandataire : BOCO IP OY AB; Itämerenkatu 5 FI-00180 Helsinki (FI)
Données relatives à la priorité :
20145798 12.09.2014 FI
Titre (EN) METHOD AND SYSTEM FOR TESTING AN ELECTRONIC UNIT
(FR) PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE TEST D'UNE UNITÉ ÉLECTRONIQUE
Abrégé : front page image
(EN)The method and system of the invention are intended for testing an electronic unit (3b) by feeding one or more predefined signal shapes created by a signal generator (1 ) of the system as input signals to a known functioning unit (3a) and to a unit to be tested (3b) at corresponding test points (10a, 10b). The resulting signal shapes are measured with a measuring instrument (4) of the system from both units (3a, 3b) at corresponding measurement points (8d, 8e, 8f and 8g, 8h, 8i) simultaneously or separately. At least one resulting signal shape from the good unit (3a) is then compared with the corresponding resulting signal shape from the unit to be tested (3b). A fault in the unit to be tested (3b) is detected on the basis of an existing signal shape distortion in time axis of the resulting signal shape received from the unit to be tested. The electronic unit under test (3b)is comprised in the system simultaneously or interchangeably with the electronic functioning unit (3a). The resulting signal shape is presented by transforming it into discrete values that describe the signal shape. The computer program product of the invention executes the method steps when run in computer readable media in the system. The method of the invention is used for electronics production testing, fault identification in electronics repair, component testing in manufacturing and repair, or counterfeit component identification.
(FR)Selon l'invention, un procédé et un système sont destinés à tester une unité électronique (3b) en fournissant une ou plusieurs formes de signal prédéfinies créées par un générateur de signaux (1) du système en tant que signaux d'entrée à une unité fonctionnelle connue (3a) et à une unité à tester (3b) à des points de test correspondants (10a, 10b). Les formes de signal résultantes sont mesurées par un instrument de mesure (4) du système sur les deux unités (3a, 3b) au niveau de points de mesure correspondants (8d, 8e, 8f et 8g, 8h, 8i) simultanément ou séparément. Au moins une forme de signal résultante de l'unité valide (3a) est alors comparée à la forme de signal résultante correspondante de l'unité à tester (3b). Une défaillance dans l'unité à tester (3b) est détectée en fonction de l'existence d'une distorsion de forme de signal sur l'axe temporel de la forme de signal résultante reçue de l'unité à tester. L'unité électronique testée (3b) est placée dans le système de manière simultanée ou interchangeable avec l'unité électronique fonctionnelle (3a). La forme de signal résultante est présentée en la transformant en des valeurs discrètes qui décrivent la forme du signal. Le produit programme informatique de l'invention exécute les étapes du procédé lorsqu'il est exécuté à partir d'un support lisible par ordinateur dans le système. Le procédé de l'invention est utilisé pour le test de production de circuits électroniques, pour l'identification de défauts lors de la réparation de circuits électroniques, pour le test de composant en fabrication et réparation, ou pour l'identification de composant de contrefaçon.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)